信赖性实验说明.docxVIP

信賴性實驗說明 I.Operating Life Test常溫壽命試驗 OLT) 常溫壽命實驗目的在于檢試產品常溫條件下長點壽命亮度、 順向電壓 及反向電流變化狀況，依據信賴性評判標准檢驗產品合格性，此項實 驗為評判產品合格與否之主要標准，是產品能否長期使用的依據 .產 品以 20mA 工作電流為准進行實驗，特殊情況特殊處理 . .High Temperature Storag高溫儲存試驗 HTS) 高溫儲存實驗目的是為了驗証產品的耐高溫性能，從產品 BOM 中展 開分析， 晶片耐高溫性是高溫儲存實驗檢驗項目之一，紅、黃晶片耐 高溫性能較優，藍、綠晶片則較差，這與材料及結構有密切關系；再 者就是驗証膠體的耐高溫性能， 膠體在高溫條件下均會產生膨脹變形 (只是程度不一樣 ). 一般來說， TG 點越高耐高溫性越優， 膠體變形越 難于產生 .實驗后一般會產生亮度衰減及 VF 升高現象 . / Low Temperature Storage低溫儲存試驗 LTS) 低溫儲存實驗目的在于驗証產品的耐低溫性能， 其與高溫儲存實驗具 有一致性和相對性 . 晶片耐低溫性能是低溫儲存實驗檢驗項目之一， 紅、黃晶片耐低溫性能較好， 藍、綠晶片則較差些，但晶片耐低溫性 能要比耐高溫性能好， 低溫儲存實驗一般不會出現不良現象；再者就 是驗証膠體的耐低溫性能，一般的，膠體在低溫條件下會收縮變形， 至而變硬變脆，如果收縮過巨，焊點會產生脫離現象 . / Temp. Humidity Test（高溫高濕實驗 THT） 高溫高濕實驗主要是為了驗証產品膠體的吸濕性 . 在高溫高濕條件 下，膠體膨脹吸水性比常溫強烈，若膠體在此條件下吸水性過高，水 分滲入會造成二極管短路現象，致使死燈或 VF升高. . Thermal Shock Test冷熱衝擊試驗 TST） 冷熱沖擊實驗目的在于檢驗產品制程之優良 . 冷熱沖擊為高溫和低 溫的快速轉換， 產品在此條件下快速膨脹和收縮產生拉扯力， 以此檢 驗金線焊接及固晶之牢固 . 如果 LED 各聯結點存在不良，實驗后一 般會產生 VF 升高或死燈現象 . . Temperature Cycling Test溫度循環試驗 TCT） 溫度循環實驗目的與冷熱沖擊實驗一樣，只是實驗條件有差別 . 溫度 循環實驗時間更長， 循環溫度也不相同， 但要緩和些. 兩者互為補充 . . Resista nee to Solderi ng Hea熱（阻抗試驗） 熱阻抗實驗即為過錫爐， 其實驗目的主要是為了檢驗膠體與支架之密 著性. 在高熱瞬間冷卻下，膠體瞬間膨脹收縮，如果膠體與支架密著 性不良，則會產生支架與膠體剝離現象，致而產生各種電性不良 . . Lead Integrity （支架腳彎曲試驗 ） 支架腳彎曲實驗目的在于檢驗膠體的拉力強度及支架的抗折力 過支腳的彎曲可以檢驗膠體與支架結合處是否出現開裂現象及支腳 是否折斷.