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广州市 XXX 有限公司
文件名称 塞尺校准规程 实施 日期 2011-4-18 頁次 1/2
文件編號 C-Q-E-16 制作單位 品质部 版本 A/0
1.目的：
藉由定期校正使仪器维持其稳定性，确保产品质量。
2.范围：
用于厚薄规、 PIN GAUGE 的校验。
3.校正环境条件：
3.1 温度： 23℃±5℃。
3.2 相对湿度： 55% ±20% RH。
4.校正周期 :
一年
5.作业内容：
5.1 校正所需设备：
名 称 厂 牌 型 号 附 件
千分尺 MITUTOYO 293.340 无
5.2 校正项目：
5.2.1厚薄规：厚度。
5.2.2 PIN GAUGE：直径。
5.3 校正前应准备事项：
5.3.1 阅读待校件相关文件，如：使用手册、说明书…等。
5.3.2校正用设备及待校件需先置于仪校室内 1hr 以上。
版次 年月日 內 容 摘 要 核 准 審 查 制 作
修
訂
記
錄
广州市 XXX 有限公司
文件名称 塞尺校准规程 实施 日期 2011-4-18 頁次 2/2
文件編號 C-Q-E-16 制作單位 品质部 版本 A/0
5.3.3确认校正环境在合格的状态下。
5.4 校正方法：
5.4.1 以酒精擦拭标准件，来回全程推动数次。
5.4.2将标准件做归零调整。
5.4.3待校件擦拭清洁。
5.4.4 以标准件直接量测待校件，每个尺寸量测 3 次并记录下来。
5.5 校正后之处理：
5.5.1将校正使用设备收归定位。
5.5.2判定该仪器是否合格：
5.5.2.1合格：贴上校验合格卷标，通知使用单位领回。
5.5.2.2不合格：贴上暂停使用卷标，通知该仪器使用单位领回安排检修。
5.5.2.3整理校正报告并将该仪器此次校正日期、有效日期及校验结果登录于校
验记录中供判定用。
5.6 注意事项：
5.6.1校验过程中必须戴手套。
5.6.2避免待测件掉落及量测面的磨损。
5.6.3校验时待测件与标准件的量测面要保持垂直，以避免产生余弦误差。
6.判定标准 :
±0.01mm
版次 年月日 內 容 摘 要 核 准 審 查 制 作
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