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第六章 X 射线应力测定 § 6 X 射线应力测定 ? 金属材料及其制品在冷、热加工（如切削、装配、冷拉、 冷轧、喷丸、铸造、锻造、热处理、电镀等）过程中，常 常产生残余应力。残余应力对制品的疲劳强度、抗应力腐 蚀疲劳、尺寸稳定性和使用寿命有着直接的影响。 ? 研究和测定材料中的宏观残余应力有巨大的实际意义，例 如可以通过应力测定检查消除应力的各种工艺的效果；可 以通过应力测定间接检查一些表面处理的效果；可以预测 零件疲劳强度的贮备等等。 ? 研究和测定材料中的宏观残余应力在评价材料强度、控制 加工工艺、检验产品质量、分析破坏事故等方面是有力的 手段 . 1. 引言 一、应力的分类 残余应力是材料及其制品内部存在的一种内应力，是指产 生应力的各种因素不存在时，由于不均匀的塑性变形和不 均匀的相变的影响，在物体内部依然存在并自身保持平衡 的应力。通常残余应力可分为 : 1 、宏观应力（第一类应力） : 存在于整个工件或者较大宏 观区域内的应力。 2 、微观应力（第二类应力） : 存在于晶粒范围内的应力。 3 、超微观应力（第三类应力） : 存在于晶界、滑移面、位 错附近等更微小区域内的应力。 二、应力与 X 射线衍射图的联系 ? 第一类应力或宏观残余应力 是残余应力在整个工件范围或 相当大的范围内达到平衡。使 θ 角发生变化，衍射线位移。 测定衍射线位移，可求出宏观残余应力 . ? 第二类应力或微观应力 是残余应力在一个或几个晶粒范围 内平衡。有微观应力存在时，各晶粒同一 {HKL} 面族的面 间距将分布在 d1~d2 范围内，衍射谱线变宽，根据衍射线 形的变化，就能测定微观应力。 ? 第三类应力或点阵静畸变应力 是残余应力在一个晶粒内上 百或几千个原子之间达到平衡。导致衍射线强度降低。根 据衍射线的强度下降，可以测定第三类应力。 三、宏观应力的测定特点 ? 测定残余应力的方法有电阻应变片法、机械引伸仪法、小 孔松弛法、超声波、光弹性复膜法和 X 射线法等。但是用 X 射线测定残余应力有以下优点： ? 1. X 射线法测定表面残余应力为非破坏性试验方法。 ? 2. 塑性变形时晶面间距不变化，就不会使衍射线位移，因 此， X 射线法测定的是纯弹性应变。用其他方法测得的应 变，实际上是弹性应变和塑性应变之和，两者无法分辨。 ? 3. X 射线法可以测定 1~2mm 以内的很小范围内的应变，而 其他方法测定的应变，通常为 20~30mm 范围内的平均。 ? 4. X 射线法测定的是试样表层大约10μm深度内的二维应 力。采用剥层的办法，可以测定应力沿层深的分布。 ? 5. 可以测量材料中的三类应力。 ? 6. 在诸多测定残余应力的方法中，除超声波法外，其他方 法的共同点都是测定应力作用下产生的应变，再按虎克定 律计算应力。 ? 7.X 射线残余应力测定方法也是一种间接方法，它是根据 衍射线条的θ角变化或衍射条形状或强度的变化来测定材 料表层微小区域的应力。 ? X 射线法不足之处 ： ? 测试设备费用昂贵；受穿透深度所限，只能无破坏地 测表面应力，若测深层应力，也需破坏试样； ? 当被测工件不能给出明锐的衍射线时，测量精确度不 高。能给出明锐衍射峰的试样，测量误差约为 ± 2 × 10 7 Pa( ± 2kgf/mm 2 ) ； ? 试样晶粒尺寸太大或太小时，测量精度不高；大型零 件不能测试；运动状态中的瞬时应力测试也有困难。 2 、宏观应力测定的原理 ? 1 、单轴应力 ? 宏观： 最简单的受力状态是单轴拉 伸。有一根横截面积为 A 的试棒，在 轴向 Z 施加拉力 F ，它的长度将由受 力前的 L0 变为拉伸后的 Ln ，所产生 的应变εy为： ? 根据虎克定律，弹性应力σz为： σy＝Eεy, E为弹性模量 . ? 微观： ? 试样各晶粒中与轴向垂直 ? 的晶面的面间距 d 也会相应 ? 地变大，可以通过测量 d 的 ? 变化来测定应变 . ? ? 从材料力学可知，对各向 ? 同性的物质εx=εz= - ν εy, ? ν －泊松比，负号表示减小 ? 只要测出 Z 方向上晶面间距的变化Δd，就可算出 Y 方向上 应力的大小。而晶面间距的变化是通过测量衍射线的位移 Δθ得到。 ? 由布拉格方程微分得：测定单轴应力基本公式 : ? 为测定单轴应力的基本公式 . 当试样中存在宏观内应力时， 会使衍射线产生位移。提供用 X 射线衍射方法测定宏观内 应力的实验依据，即可以通过测