pcb几种测试与设计规程讲解.docxVIP

PCB几种测试与设 计规程讲解 1 2020 年 5 月 29 日 文档仅供参考 PCB 测试与设计规程 随着微型化程度不断提高 ,元件和布线技术也取得巨大发展 ,例如 B GA 外壳封装的高集成度的微型 IC, 以及导体之间的绝缘间距缩小 0.5mm,这些仅是其中的两个例子。电子元件的布线设计方式 ,对以后制作流程中的测试能否很好进行 ,影响越来越大。下面介绍几种重要规则及实用提示。 经过遵守一定的规程 (DFT-Design for Testability, 可测试的设计 ), 能够大大减少生产测试的准备和实施费用。这些规程已经过多年 发展 ,当然 ,若采用新的生产技术和元件技术 ,它们也要相应的扩展 和适应。随着电子产品结构尺寸越来越小 ,当前出现了两个特别引人注目的问题 :一是可接触的电路节点越来越少 ;二是像在线测试 (I n-Circuit-Test) 这些方法的应用受到限制。为了解决这些问题 ,能够 在电路布局上采取相应的措施 ,采用新的测试方法和采用创新性适 配器解决方案。第二个问题的解决还涉及到使原来作为独立工序 使用的测试系统承担附加任务。这些任务包括经过测试系统对存 储器组件进行编程或者实行集成化的元器件自测试 (Built-in Self Te st,BIST, 内建的自测试 )。将这些步骤转移到测试系统中去 ,总起来 ,还是创造了更多的附加价值。为了顺利地实施这些措施 ,在产品科研开发阶段 ,就必须有相应的考虑。 2 2020 年 5 月 29 日 文档仅供参考 1、 什么是可测试性 可测试性的意义可理解为 :测试工程师能够用尽可能简单的方法 来检测某种元件的特性 ,看它能否满足预期的功能。简单地讲就是 : 检测产品是否符合技术规范的方法简单化到什么程度 ? 编制测试程序能快到什么程度 ? 发现产品故障全面化到什么程度 ? 接入测试点的方法简单化到什么程度 ? 为了达到良好的可测试必须考虑机械方面和电气方面的设计规 程。当然 ,要达到最佳的可测试性 ,需要付出一定代价 ,但对整个工艺流程来说 ,它具有一系列的好处 ,因此是产品能否成功生产的重要前提。 2、为什么要发展测试友好技术 过去 ,若某一产品在上一测试点不能测试 ,那么这个问题就被简单地推移到直一个测试点上去。如果产品缺陷在生产测试中不能发 ,则此缺陷的识别与诊断也会简单地被推移到功能和系统测试中去。 相反地 ,今天人们试图尽可能提前发现缺陷 ,它的好处不但仅是成本低 ,更重要的是今天的产品非常复杂 ,某些制造缺陷在功能测试中 可能根本检查不出来。例如某些要预先装软件或编程的元件 ,就存在这样的问题。 (如快闪存储器或 ISPs:In-System Programmable De 3 2020 年 5 月 29 日 文档仅供参考 vices 系统内可编程器件 )。这些元件的编程必须在研制开发阶段就计划好 ,而测试系统也必须掌握这种编程。 测试友好的电路设计要费一些钱 ,然而 ,测试困难的电路设计费的钱会更多。测试本身是有成本的 ,测试成本随着测试级数的增加而加大 ;从在线测试到功能测试以及系统测试 ,测试费用越来越大。如果跳过其中一项测试 ,所耗费用甚至会更大。一般的规则是每增加一级测试费用的增加系数是 10 倍。经过测试友好的电路设计 ,能够及早发现故障 ,从而使测试友好的电路设计所费的钱迅速地得到补偿。 3、文件资料怎样影响可测试性 只有充分利用元件开发中完整的数据资料 ,才有可能编制出能全面发现故障的测试程序。在许多情况下 ,开发部门和测试部门之间 的密切合作是必要的。文件资料对测试工程师了解元件功能 ,制定测试战略 ,有无可争议的影响。 为了绕开缺乏文件和不甚了解元件功能所产生的问题 ,测试系统制 造商能够依靠软件工具 ,这些工具按照随机原则自动产生测试模式 , 或者依靠非矢量相比 ,非矢量方法只能算作一种权宜的解决办法。 测试前的完整的文件资料包括零件表 ,电路设计图数据 (主要是 C AD 数据 )以及有关务元件功能的详细资料 (如数据表 )。只有掌握了所有信息 ,才可能编制测试矢量 ,定义元件失效样式或进行一定的 预调整。 4 2020 年 5 月 29 日 文档仅供参考 某些机械方面的数据也是重要的 ,例如那些为了检查组件的焊接 是否良好及定位是否所需要的数据。最后 ,对于可编程的元件 ,如快 闪存储器 ,PLD 、 FPGA 等 ,如果不是在最后安装时才编程 ,是在测试 系统上就应编好程序的话 ,也必须知道各自的编程数据。快闪元件 的编程数据应完整无缺。如快闪芯片含 16Mbit 的数据 ,就应该能 够用到 16Mbit, 这样能够防止误解和避免地址冲突。例如 ,如果用 一个 4Mbit 存储器向一个元件仅仅提供 3