超声检测技术 教案 4-5 缺陷尺寸的评定.docVIP

课 题 缺陷尺寸的评定（4学时） 目 的 与 要 求 掌握超声探伤缺陷尺寸的评定方法 重 点 回波高度法，当量评定法，长度测量法 难 点 AVG曲线法评定缺陷尺寸 教 具 多媒体 复 习 提 问 无 新知识点考查 超声探伤缺陷尺寸的评定方法 布置 作业 补充：习题册 课后回忆 备注 教员 教研室 主任批阅 系部审 查意见 知识能力六 缺陷尺寸的评定 评定缺陷尺寸所利用的信息：来自缺陷的反射波高；沿试件表面测出的缺陷延伸范围；存在缺陷时底面回波的变化。 当缺陷尺寸小于声束截面时，可用缺陷回波幅度当量直接表示缺陷的大小；当缺陷大于声束截面时，幅度当量不能表示出缺陷的尺寸，则需用缺陷指示长度测定方法确定缺陷的延伸长度。 评定的方法包括：回波高度法，当量评定法，长度测量法 一、 回波高度法 根据回波高度给缺陷定量的方法称为回波高度法，又称为波高法。波高法有缺陷回波高度法和底面回波高度法两种。波高法常用于缺陷尺寸小于声束截面的缺陷定量。 1. 缺陷回波高度法 在确定的探测条件下，缺陷尺寸越大，反射声压越大。对于垂直线性好的仪器，声压与回波高度成正比，因此，缺陷的大小可以用缺陷回波高度来表示。 2. 底面回波高度法 当试件中有缺陷时，由于部分声能被缺陷反射，使传到底面的声能减少，从而底面回波高度比无缺陷时降低。缺陷越大，底面回波高度下降的越多。因此，可用底面回波高度来表示缺陷大小。底面回波高度法表示缺陷相对大小的方法： 1) B/BF法 可用B/BF值来表示缺陷的大小。无缺陷时，B/BF值为1，有缺陷时B/BF值大于1，B/BF值越大，则缺陷越大。 2) F/BF法 缺陷的存在使得底波降低，缺陷越大，则F越高，BF越低。可用F/BF值来表示缺陷的大小，F/BF值越大，缺陷越大。 3) F/B法 可用F/B值来表示缺陷的大小。底波高度B是一个不变的量，缺陷越大，则F越高，F/B值越大。 F ——缺陷回波的高度；BF ——有缺陷时的工件底面回波高度； B ——无缺陷处试件底面回波的高度 优点：不需要对比试块和复杂的计算，常用于声束垂直工件底面的纵波探伤。 缺点：不能明确地给出缺陷的尺寸，不适用于对形状复杂而无底面回波的试件进行检测。 二、当量评定法 当量评定法是将缺陷的回波幅度与规则形状的人工反射体的回波幅度进行比较的方法，如果两者的埋深相同，反射波高相等，则称该人工反射体的反射面尺寸为缺陷的当量尺寸，典型表述为：缺陷当量平底孔尺寸为F2mm，或缺陷尺寸为F2mm平底孔当量。 ◇当量评定法适用于缺陷面积小于声束截面的尺寸评定。 ◇当量法确定的当量尺寸并不是缺陷的真实尺寸。因为人工反射体是一个规则形状缺陷，且界面反射率较大，通常情况下实际缺陷的实际尺寸要大于当量尺寸。 当量评定的方法有：试块对比法、当量计算法、AVG曲线法 2）试块对比法 = 1 \* GB3 ① 前提条件 对于厚度x3N 的试件，只能采用试块比较法，因为这一范围不符合计算法的适用条件，而且，幅度随距离的变化不是单调的。 = 2 \* GB3 ② 方法： 根据工件的厚度和对灵敏度的要求选择相应的试块。将探头对准试块上的人工反射体，调整仪器，使示波屏上人工反射体的最高反射回波达到基准高度。 2. 当量计算法 计算法应用的前提是缺陷波位于3倍近场长度以外。 当量计算法是根据超声检测中测得的缺陷回波与基准波高（或底波）的分贝差值，利用各种规则反射体的理论回波声压公式进行计算，求出缺陷当量尺寸的定量方法。 1) 平底孔与大平底回波声压比的分贝数为 2) 不同平底孔的回波声压比的分贝数为 3. AVG曲线法 纵波直探头检测时，可用平底孔AVG曲线确定缺陷当量。通用AVG曲线；实用AVG曲线。 原理：与当量计算法相同，测出缺陷回波幅度相对于某一基准反射体回波幅度的分贝值差，根据测得的分贝差，在曲线上查出缺陷的当量尺寸。 基准──工件的底面回波或试块上的规则反射体回波。 1）用通用AVG曲线确定缺陷当量 根据缺陷回波与基准回波的分贝差值以及缺陷的归一化距离A和基准反射体的归一化距离Aj，从通用AVG曲线上既可以查到归一化的缺陷当量尺寸G，则缺陷的当量尺寸d为： 通用AVG曲线 2）用实用AVG曲线确定缺陷当量 实用AVG曲线是针对探头晶片尺寸和频率而制作的，图中每一条曲线都直接表示着某一相应的反射体的当量尺寸，因而不用进行归一化，比通用AVG更方便。 实用AVG曲线 三、 缺陷延伸长度的测定 对于面积大于声束截面或长度大于声束截面直径的缺陷，根据可检测到缺陷的探头移动范围来确定缺陷的大小。 测定原理：根据缺陷的最大回波高度降低的情况和探头移动的距离来确定缺陷的边界范围或长度。 1）相对灵敏度测长法 相对灵敏度测长法：以缺陷的最高回波为相对基准。沿缺陷的长度方向移动探头，降