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一.名词解释
特征x射线:当原子内层电子打到外层或许使原子电离,外层电子落到
内层发生跃迁,使原子剩余能量作为x射线发射出来的叫做
特征x射线。
接连x射线:因为快速移动的电子在靶面忽然中止而发生的轫致辐射。
软x射线:波长大于0.1nm的 X射线,即 光子能量相对较低的 X射线。
硬x射线:波长小于0.1nm的 X射线,即 光子能量相对较高的 X射线。
一次x射线:
二次X射线:
吸收边:各元素质量系数骤变时的波长值成为该元素的吸收边。
倒易格子:感光底片上衍射点所在的倒易空间中衍射点组成的格子称为倒易格子。
单晶法:关于一特定晶体,dhkl必定,经过改动波长或改动掠射角θhkl来使晶面子网满
足衍射条件的办法。
多晶法:
微束剖析仪:运用集合的具有必定能量的微电子束,微离子束,微光束或其他微粒
子束作为激光源来激起样品的微区而发生各种信息,并对这些信息加以
勘探,搜集,鉴别然后得到样品微区成分,结构,描摹等信息的仪器。
电子探针剖析:电子探针是高能电子束作用于物质,使发生特征x射线,俄歇电子等
二次电子而进行的一种外表,微区剖析办法。
二次电子:入射电子与试样原子相互作用,试样原子的核外电子取得极高能量,脱离原
子而从样品外表逸出称为二次电子。
背散射电子:当入射电子与样品中的原子相互作用而改动方向,发生散射时,其间的部
分电子可从头经过入射电子外表被反射出来,这样的电子称为背散射电子。
吸收电子:跟着入射电子与样品中原子核或核外电子发生非弹性散射次数的增多,入射
电子的能量和活动能力不断下降,致使最终被样品吸收。被吸收的这部分入
射电子称为吸收电子。
透射电子:当电子束入射到薄样品上,假如样品厚度比入射电子的有用穿透深度小得多,
就会有必定数量的入射电子穿透样品,这部分入射电子称为透射电子。
俄歇电子:当固态样品遭到入射电子炮击时,元素原子内层轨道上的电子被击出原子成
为自由电子或二次电子而留下空位,外层高能电子弥补空位,剩余的能量被
该原子吸收而炮击出另一轨道上的电子被称为俄歇电子。。
透射电镜:使电子束穿透所调查的样品,并将透射电子用电磁透镜集聚成像,以调查样
品内部结构信息的仪器。
扫描电镜:它是用细聚集的电子束炮击样品外表,经过剖析电子与样品相互作用发生的
二次电子,背散射电子等信息对样品外表或断口描摹进行调查的仪器。
红外吸收光谱:波长接连的红外辐射经过物质时,其间某些波长的辐射被物质吸收,将
经过物质后的红外辐射波长别离开来,逐个丈量并记载其透过率就是该
物质的红外吸收光谱。
红外光谱仪。丈量并记载红外吸收光谱的仪器。
弹性振荡:指原子沿着键轴方向弹性使键长发生改变的振荡。
曲折振荡:指键角发生改动的振荡。
透光度:
吸光率:
差热剖析曲线:在升温或降温时的特定温度下试样与参比物之间温差与温度的联系曲
线。
热重剖析曲线:
差示扫描量热剖析:是在程序温度操控下,丈量被测物质与参比物之间单位时刻的能量
差随温度改变的一种技能。
热重曲线:由热重法记载的试样质量改变对温度的联系曲线称为热重曲线。
差热曲线:
热剖析:丈量物质任何性质参数与温度联系的一类相关技能总称。
判断题
在X射线衍射剖析中,只要Kβ是有用的。()
X射线的波长有一确认值,则称为接连X射线。()
X射线的波长有一确认值,则称为特征X射线。()
在X射线衍射剖析中,只要Kα是有用的。)()
接连X射线即为白色X射线。()
接连X射线谱中最短波长只与电压有关,与管流和阳极资料无关。()
X射线衍射剖析顶用的是特征X射线.。()
X射线穿过物体时,强度的削弱与原始X射线的强度和穿过物体的厚度有关。 ()
分子运动可分为平动、滚动、振荡和电子运动。()
化学键越强,相对原子质量越小,振荡频率越高。()
DSC办法可用于测定比热容、反响热、改变热等。()
DSC办法可用于测定试样纯度、反响速率、结晶速率、高聚物结晶度等。()
TG可测定结晶水,脱水量及热分化反响的详细进程。()
固气之间的反响可用DTA来剖析。()
影响热重曲线的要素有浮力、样品、挥发物、升温速率、气氛、样品用量和粒度等。()
由热重法记载的试样质量改变对温度的联系曲线称DAT曲线。()
矿藏发生失水、氧化、复原、分化、晶格结构的损坏或重建、晶型改变等皆可用差热剖析法来判定。()
吸附水失掉的温度大约为110℃。()
结晶水在大多数情况下,在300℃放出。()
高岭石在560℃左右失掉结构水。()
蛇纹石在670℃左右失掉结构水。()
滑石在930℃左右失掉结构水。()
矿藏在加热进程中,SO2、CO2等气体放出发生吸热效应。()
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