双棱镜干涉实验卡片.docVIP

PAGE PAGE 2 双棱镜干涉实验卡片 1. 实验前的仪器调节 1）实验中需要读取滑块在导轨上的位置读数，实验时将滑块带刻线一端朝外放置以便读数。 2）将光电探测器与光功率计连接，将光功率计的量程选至可调档，用手遮住光电探测器窗口，调节光功率计对零旋钮，使显示为零。测量中若光强超过量程，将显示“1”或“-1 2. 测量系统的同轴等高调节 1）将半导体激光器置于导轨一端，将光电探测器安装在大行程一维调节架上，并放置在导轨上靠近激光器处。 2）将光电探测器探测窗口调置到0.2档位置，调节探测器上、下、左、右位置，使得激光器发出的光斑能射入到小孔内。 3）将光电探测器逐渐向较远端平移，调节激光器方位，使得光斑能够再次进入小孔，如此反复多次，直至光电探测器窗口与远端激光器均处在导轨等高位置上。 4）将光电探测器移至导轨最远端，在激光器附近依次安放透镜（= 60 mm）、双棱镜（双棱镜安装在可调滑块上），调整透镜、双棱镜的高度，使之与激光器发出的光束等高。 3. 调节双棱镜使之产生干涉条纹 用白屏替代光电探测器，调整双棱镜横向位置，调节透镜与双棱镜的间距，使之在白屏正中出现清晰、粗细合适的干涉条纹，干涉条纹数为5 - 7条，此时，将激光器、透镜、双棱镜、光电探测器所在的大行程一维调节架、固定在导轨上，保证其位置不再变化。 4. 测量干涉条纹的宽度 1）用光电探测器换下白屏，选择光电探测器上合适的狭缝光栏（如0.2mm的细缝），并与光功率计连接，将光功率计的量程选至可调档。调节大行程一维调节架，使得光电探测器横向移动，选择好的狭缝光栏对准干涉条纹的边缘处的某一亮纹，此时，光功率计接收的信号达到极大值，以此作为中央条纹。 2）此时大行程一维调节架上的位置读数，平移光电探测器，使狭缝扫描整个 干涉条纹区，光功率计记录的每两次光强极大值所对应的横向移动距离，即为一个干涉条纹的间距，从起始位置开始记录，扫过n个干涉条纹的间距（尽可能扫到图样另一端边缘）记录此时的位置读数，总条纹数目n，有： 重复测量5次，取平均值。注意测量时消除大行程一维调节架的“空程差”。 5. 测量两虚光源之间的距离 1）将导轨上各滑块全部固定，保持其位置不变，并且稳定。 2）在双棱镜和光电探测器之间（靠近双棱镜处）放置透镜（=100 mm），调节，使之与系统共轴。 3）移动，在光电探测器表面得到清晰的放大的虚光源像（两个清晰的圆光斑），用光电探测器对两光斑进行测量，得到间距，重复测量5次，取平均值。 4）记录下此时光电探测器的位置（与光电探测器上光电池记录板之间的距离需要修13mm），和透镜位置，求出像距：。利用公式（2）、（3）、（4）即可计算出和的值，代入公式（1）计算出波长的值。 公式： （1） （2） ， （3） （4）