原子吸收光谱分析汇总.ppt

c ? 原子化过程 原子化过程可分为四个阶段，即干燥、灰化、原子化和净化。如图 干燥 温 度 o C 时间， t 净化 原子化 灰化 虚线：阶梯升温 实线：斜坡升温 干 燥：去除溶剂，防样品溅射； 灰 化：使基体和有机物尽量挥发除去； 原子化：待测物化合物分解为基态原子，此时停止通 Ar ，延长原子停 留时间，提高灵敏度； 净 化：样品测定完成，高温去残渣，净化石墨管。 c 优点： ? 具有较高的可控温度。 ~3400 0 C ? 原子蒸气在光程中的滞留时间长。 10 -1 ~10 -2 s ? 样品消耗量少。 ? 抗干扰能力强 ---- 灰化分离。 ? 灵敏度高。 石墨炉原子化器特点 缺点： 精密度、重现性较差。 5~10% 存在记忆效应。 杂散光引起的背景干扰较严重， 需要校正。 c 同其它光学分光系统一样，原子吸收光度计中的分光系统亦包括 出 射、入射狭缝 、 反射镜和色散原件 （多用光栅）。 单色器的作用在于将空心阴极灯阴极材料的杂质发出的谱线、分析 线的邻近线、火焰的背景辐射等与共振吸收线分开。 三、分光系统 分光 系统 c 光谱通带 光谱通带 W=D × S × 10 -3 D ：光栅的倒线色散率，表示为每 1mm 范围内所含的谱线波长宽度 S ：狭缝宽度（ m m ） 光谱通带的物理意义： 从狭缝所辐射出的谱线的波长宽度（ nm ） 谱线简单，可增大狭缝，反之，应减小狭缝 c 检测器 （光电倍增管） c 原子吸收光谱法的干扰效应及消除方法 ? 干扰的类型 ? 光谱干扰 ? 化学干扰 ? 电离干扰 ? 物理干扰 ? 背景干扰 . c 一 . 光谱干扰及其消除方法 ? 吸收线重叠： e.g. Cu 2165? 与 2178? 。狭缝较宽时出现同时吸收 ? 待测元素分析线与共存元素的吸收线重叠 e.g. Fe 2719.025? Pt 2719.038 ? e.g. Cu 2165 ? 与 2178 ? Pb 2170 ? 1. 产生的原因 2. 消除方法 : 减小狭缝、降低灯电流、或更、换其它分析线 . c 二 . 化学干扰及其消除方法 化学干扰 是指被测原子 与共存元素 发生化学反应生成 稳定的化合物，影响被测元素原子化效率，统称化学干扰。 1. 产生的原因 e.g.1 PO 3- 4 、 Ca 2+ 的反应，干扰 Ca 的测定。 e.g.2 Al ， Si 在空气 - 乙炔中形成的稳定化合物，大量的 Ni 存在会抑 制这种干扰。 2. 消除方法 (1) 选择合适的原子化方法 提高原子化温度，化学干扰会减小，在 高温火焰中 P0 4 3- 不干扰钙的测定。 (2) 加入释放剂 ( 广泛应用 ) 如：磷酸盐干扰 Ca ，当加入 La 或 Sr 时，可 释放出 Ca 。 (5 ） 分离法： 沉淀分离、萃取分离、离子交换等 c 三 . 电离干扰及其消除方法 1. 产生的原因 在高温下原子的电离使基态原子数减少 , 吸收下降 , 称电离干扰 . 2. 消除方法 : 加入过量 消电离剂、 或用贫燃性火焰 所谓的消电离剂 , 是电离电位较低的元素 , 加入时，产生大量电子 , 抑制被测元素电离 . 如： K ---- K + + e Ca 2+ + e --- Ca c 四 . 物理干扰及其消除方法 1. 产生的原因 指试液与标准溶液物理性质的差别而产生的干扰。 溶液的粘度、表面张力或溶液密度等变化，影响样品雾化效率和 气溶胶到达火焰的传递等会引起的原子化效率与吸光度的改变。属于 非选择性干扰 。 2. 消除方法 配制被测试样组成相近溶液。 用标准加入法进行定量分析。 浓度高的溶液可用稀释法。 c 五 . 背景干扰 1. 产生的原因 背景干扰也是光谱干扰的一种，主要是由 分子吸收 与 光散射 造成 光谱背景。 分子吸收： 是指在原子化过程中生成的分子对辐射吸收，分子吸收是 带状光谱 。 光 散 射： 是指原子化过程中产生的微小的固体颗粒使光产生散射，造 成透过光减小，吸收值增加。 2. 校正方法 氘灯扣背景法、塞曼扣背景法 、邻近线扣背景法、自吸扣背景法 c 连续光源背景校正 （ The continuum-source correction method ） 切光器使锐线源和氘灯源 交替进处原子化器。然后分别 测定吸光值： A 锐 =A+A B A 氘 =a+A B =A B 则 A=A 锐 -A B =A 锐 -A 氘 式中 a 为基态原子对连续光源 的吸光值，因待测原子浓度很 低，相对而言， a 可勿略。 紫外区用氘灯；可见 光区用碘钨灯或氙灯。 ? 连续光源和切光器会降低信噪比 S/N ； ? 原子化器中气相介质和粒子分布不均，对两个光源的排列要求极高； ? 大多仪器装配的 D 2 灯不适于可见光区（ I