固体化学：第三章 结晶学和衍射技术1.pdfVIP

第三章 结晶学和衍射技术 3.1，分子型和非分子型固体 材料是分子型的，固体、液体或气体，光谱方法和化学分析完成鉴定； 分子在晶态时是如何堆积的 性质和化学反应性 非分子型的和晶态的，首选的鉴定手段X射线粉末衍射，再结合化学分析等。 单胞参数以及原子在单胞中的位置等 缺陷和杂质 材料的性质 Cr掺杂的Al O 的颜色和发射激光的行为 2 3 单胞 胶粒（纳米颗粒） -4 mm = 10-7 mm ）到微米水平的微结构 几个埃的局部结构（1Å = 0.1 nm = 10 分子型材料具有确定的分子式并且是没有缺陷的 非分子型材料，缺陷和杂质几乎是不可避免的 分子型物质甲苯，C H CH ，和非分子型物质氧化铝，Al O ，之间的比较 6 5 3 2 3 氧化铝 甲苯 化学计量 固定，C H CH 固定，Al O 6 5 3 2 3 杂质 不允许 容易掺入 物质的本质 挥发性液体 可以是粉末，纤维，陶瓷，单晶，薄膜等 性质 取决于物质的本性以及掺杂物或杂质 应用 溶剂 研磨剂（粉末），热绝缘材料（人造纤维 ），电绝缘材料（薄膜或陶瓷基底），红 宝石和激光（Cr掺杂），固体电解质（ Nab-氧化铝） 3.2，固体结构的鉴定 晶态的物质，用X射线结晶学得到有关分子堆积成晶态的方式的信息之外 1). 晶体的结构，如它的单胞，它的尺寸和原子在单胞中的分数坐标； 2). 晶体存在的缺陷，它们的实际情况，数目和在晶体中的分布； 3). 可能存在的杂质和它们是胡乱散布的还是集中在某些小的区域之中； 4). 对于粉末或是陶瓷形式的固体多晶，晶粒的数目，尺寸，形状和分布； 5.) 表面结构，包括任何组分上的不均匀性，表面的吸附层以及表面与内部结构 间的差异等等。 多种技术的综合应用: 三类主要的物理技术: 衍射技术，显微镜技术和光谱技术。 热分析，磁性测量和物理性质测量等其它技术 3.3，衍射技术 1，X射线衍射技术 (1) X射线的产生 由炽热的钨丝电极可以发射出电子来，在真空管内它被高压（2万到7万伏） 电场加速。高速运动的高能荷电粒子撞击到铜铝等金属制成的靶极（阳极）上 时，便可产生X射线。 λmin(Å) = 12400/ V (a) 铜kaX射线的产生。一个1s电子被电离，一个2p 电子落入空的1s能级（ ）， 两能级的能量差以X射线的形式被释放。(b) 铜的X射线发射光谱。 K : Cu靶的2p→1s电子跃迁产生的谱线，1.5418Å; α kβ 3p →1s电子跃迁产生的谱线,1.3922Å。 k 谱线波长为1.54051Å; k 谱线波长为1.54433Å α1 α2 按照Moseley定律，波长与金属的原子序数Z有关： 1 1