食品级氢氧化钠中杂质含量的测定.docVIP

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食品级氢氧化钠中杂质含量的测定 第 12 期 中国氯碱 No 〃12 272014 年 12 月 China Chlor,Alkali Dec.,2014 食品级氢氧化钠中杂质含量的测定 孔金泳 , 台红霞 河南永银化工实业有限公司 , 河南 舞阳 462400: 摘 要 : 针对氢氧化钠中的重金属杂质分析提出采用 ICP 的分析方法 , 对硫酸根的测定提出改进的分 析方法 ; 实验证明采用 ICP 分析氢氧化钠中的重金属杂质有一定可行性 , 对硫酸根测定的改进方法具 有一定实用性。 b5E2RGbCAP 关键词 :ICP; 杂质 ; 硫酸根 +中图分类号 :TQ075.3 文献标识码 :B 文章编号 :1009,1785(2014)12-0027-02 p1EanqFDPw Determination method of impurities in food grade sodium DXDiTa9E3d hydroxide KONG Jin-yong, TAI Hong-xia :Henan Yongyin Chemical Industry Co.,Ltd. Wuyang 462400 ,China: RTCrpUDGiT According to the analysis of heavy metal impurities in sodium hydroxide is presented using the Abstract: 5PCzVD7HxA ICP analysis method, and put forward the determination of sulfate modified analysis method; the experiment proves that the ICP analysis of heavy metal impurities in sodium hydroxide has certain feasibility, has certain practical improvement method of determination of sulfate. jLBHrnAILg Key words:ICP ;impurities ;sulfate ions 氯碱行业一般采用离子膜电解工艺 , 此工艺生 子指标 , 采用电感耦合等 离子发射光谱法 :ICP: 进行测 杂质含量很低。对工艺进行有效 : 重金属 0.000 5%; 砷 0.000 3%; 铅 2 mg/kg; ??? 产的烧碱品质较高定 xHAQX74J0X , 产品各项指标即能达到高纯和食品级氢氧化 汞 ?1 mg/kg; 镉?1 mg/kg, 并得 出了结论。 控制 LDAYtRyKfE 。 按照现行国家标准 GB/T 5175-2008 食品添 此外 , 食品级氢氧化钠中 GB 5175-2008 中没 钠级别 [1] 氢氧化钠的要求 , 对其中砷的测定采用 GB/T , 但目 前公司有些客 有硫酸盐的测定的标准及方法加剂 [2], 并出具准 5009.76-2003 的 砷斑法进行测定、对汞的测定采用 户要求对氢氧化钠中的硫酸根进行测定 [3]GB/T 534-2002 冷原子吸收分光光度法、对重金属的 。 而 根 据 目 前 GB 11213.5- 2006-T 化 纤 用 确结果 [4]-6 GB/T 5009.74-2003 利用重金属与硫化氢 硫酸 盐的测定方法最低只能测出 10×10 测定采用氢氧化钠 Zzz6ZB2Ltk 以上的硫酸盐含量 , 而客户要求的氢氧化钠中硫酸 , 如采用国标法对以上分析 项目 生成棕黑色进行测定 -6-6 , 会比较繁琐麻烦 , 耗费相对较长时间。 20×10, 按 照现行国标进行分析 10×10?进行全分析盐的指标 dvzfvkwMI1 如果采用电感耦合等离子发射光谱仪 :ICP: 测 以 下 的就分析不出来 ; 针 对 这 个 问 题 , 在 国 标 GB rqyn14ZNXI 11213.5-2006-T 基础上进行了方法摸索 , 通过实 , 不仅会非常简便 , 同时可 以针对客户的 定这些杂质 -6, 如某些食品行业对 , 使分析检测下限达到 1× 10。 特殊需求对某些离子进行分析验改进了测定方法 EmxvxOtOco [5] Cd 有特殊要求 , 采用 ICP 测 食品级氢氧化钠中的 1 采用 ICP 测 定杂质离子 SixE2yXPq5 、 也不必增加很多的额外 1.1 仪器和参数 定不需要增加额外的仪器 Prodigy 电感耦合等离子体发射光谱仪 :

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