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統計製程管制SPC;SPC簡介;?影響產品品質的變異分為不可歸咎變異和
可歸咎變異等兩類因素:
1.不可歸咎變異因素是在製程中隨時都會影響到產
品。
2.可歸咎變異因素則是在某種特定條件下的製程中
才會影響到產品。
;SPC圖 (SPC Charts)正是為了判斷製程是否穩定,或是區分製程究竟是被不可歸咎變異因素或可歸咎變異因素所影響的一種統計技術。;數據描述的方法;?平均數(mean):
平均數在SPC中最常用來決定製程是否偏離目標值,
樣本平均值以X表示。
?中位數(median):
位於所有數值的中央稱為中位數,如果數值有偶數個
,則取中間兩個數的平均值當中位數。中位數的意義
在於有50%的值小於或等於中位數。
因為中位數比起平均數而言,較不會被極端值影響,
故中位數比較穩健。;?眾數(mode):
出現次數最多的數稱為眾數
?截尾平均數(trimmed mean):
截尾平均是取介於第一與第三四分位數中所有值的平
均,比起平均數,截尾平均數較不受特別大或特別小
的值所影響。同時又不是只代表某個出現頻率最高的
值。 ;分散度的量測;製程能力分析;製程能力與規格;?第一種情況:6?<USL-LSL
當製程變異(6 ?)小於規格間之差(USL-LSL)時,
這是最理想情況,個別值和規格的關係最佳,因為
規格比製程變異大很多,即使製程平均值有很大的
移動,也不易超出規格界線,所以不必時常調整機
器或尋找非自然因素。
;?第二種情況:6 ? =USL-LSL
製程變異或製程能力等於規格間的差。如果製程的
次數分佈與A相同則有99.74%的產品符合規格;但
是當製程平均移動時(如分佈B)或變異增大時(如分佈
C),則不良率可能遠大於0.06%。只有分佈A的是處
於統計管制內,不良品的發生率在可接受的範圍之
內,可是一但發生非自然因素的變異,需立即加以
矯正。
;?第三種情況:6 ? <USL-LSL
當製程變異或製程能力大於規格間之差時,表示製
程處於非常不理想的情況中,即使是自然型態的變
異,如圖上次數分佈A,超出規格的上下限的不良率
在不可接受的範圍內;換句話說,製程沒有製造符
合規格產品的能力。
;製程能力分???;所謂製程能力分析又稱為製程能力研究, 是利用管
制圖、次數分配圖及其它統計方法以決定製程能力
的一種系統性工作,這種工作包括下列步驟
1.確定能代表製程能力的品質特性。
2.由製程抽取樣本測定其特定性值普通需收集100至
250個數據。
3.點繪出的形態,計算其平均值與標準差(利用次數
分配圖) 。
4.解釋此種形態,發掘異常現象,確定在經濟上是否
值得採取措施。
5.對異常現象採取措施。
;製程能力分析的用途;製程能力指標;工程準確度指數Ca(Capability of Accuracy);? Ca的計算
製程平均值()與規格中心值之間偏差程度,稱為工程
準確度,
其指數Ca之計算公式如下:
T=Su-Sl=規格上限-規格下限
由上是可知當M與差愈小,也就是品質接近規格要
求的水準。K值為負時,表示實績值偏低,K值為正
時表示偏高。在單邊規格的情形,即只有規格上限
Su或只有規格下限Sl的情形,因沒有規格中心值,
故不能計算工程準確度指數。
;? Ca等級評定;工程能力指數Cp(Capability of Process) ;? Cp的計算
由上式可知產品分散寬度愈大時,Cp值愈小,表示
製程能力差,反之表示能力好。前者係用於計算雙
邊規格之Cp,而後者用於計算單邊規格之Cp。
與 所代表的意義一樣,都是表示群體標準差
之估計值。;? Cp等級評定;綜合評價Cpk ;? Cpk的計算
;? Cpk等級評定;;◎過程能力(Cp)Capability of process(Capability of Precision) ○衡量產品分散寬度符合公差的程序 ○ Cp值愈小,表示能力差,反之表示好;二、制程精密度 Cp(Capability of Precision)
Cp值系在衡量制程之變異寬度與規格界限範圍(規格允差)的情形。若Cp
值愈小,表示產品之品質特性變異性愈大,所以能力差;反之,若Cp值愈
大,表示產品品質特性變異愈小,精度高,制程能力佳。
1.Cp計算之公式
Cp值可應用在雙邊規格和單邊規格,當制程已達到統計學之管制狀態時,計算
制程精密度Cp才具意義。
2.Cp值之意義
制程精密度Cp代表規格界限和實際標準差之比。若Cp值大,表示標準差小,換句話說就是制程變異小,精確度高。;;;而Ca值是衡量
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