第47次课基础知识.pptVIP

第四节 由圆形压电晶片产生的声场简介 ;;; 3．超声波的指向性 主声束：超声场中超声波的能量主要集中于以声轴为中心的某一角度范围内，这一范围称为主声束。 声场的指向性：声束集中向一个方向辐射的性质。 副瓣声束：在主声束角度范围以外，还存在一些能量很低的、只存在于声源附近的副瓣声束。 ;一、超声检测设备 1．超声波检测仪;（2）B型显示 ;2．超声波探头 ;（2）探头的结构; ①压电晶片 以压电效应发射并接收超声波的元件。 ②阻尼块和吸声材料 a.阻尼吸收块 作用：ⅰ.对压电晶片的振动起阻尼作用 ⅱ.吸收晶片向其背面发射的超声波 ⅲ.对晶片起支撑作用 ③保护膜 ④斜楔 ; （3）探头的主要种类 ①接触式纵波直探头 用于发射垂直于探头表面传播的纵波 ②接触式斜探头 包括横波斜探头、瑞利波探头、兰姆波探头等。 特点：压电晶片贴在一有机玻璃斜楔上，晶片与探头表面成一定倾角。 其他：双晶探头、水浸探头、可变角探头等。; （4）探头的主要性能指标 ①频率 ;频率范围; ②检测灵敏度 指的是探头与探伤仪配合起来，在最大深度上发现最小缺陷的能力。 ③检测分辨力 纵向分辨力：沿声波传播方向，对两个相邻缺陷的分辨能力。 横向分辨力：声波传播方向上对两个并排缺陷的分辨能力。 ;（5）超声波探头型号的表示方法 探头型号的组成项目及排列顺序;2.5 B 20 Z; （1）标准试块（校准试块） 具有规定的材质、表面状态、几何形状与尺寸，可用以评定和校准超声检测设备。 常用标准试块：国际焊接学会IIW试块、美国ASTM铝合金标准试块（ASTME127）、我国的CSK-1试块。（P34） （2）对比试块（参考试块） 以特定方法检测特定试件时所用的试块。; 耦合剂：为了改善探头与试件间声能的传递而加在探头和检测面之间的液体薄层。;（3）常用耦合剂 ①水 ②甘油 ③全损耗系统用油（俗称机油）和变压器油 ;二、仪器与探头的选择 ; 2.探头的选择 选择依据：被检对象的形状、衰减和技术要求。 ;（2）频率的选择; （3）探头晶片尺寸的选择;三、超声检测方法 ;;2．脉冲反射法 ; 1）优点： ①检测灵敏度高，能发现较小的缺陷。 ②可对缺陷精确定位。 ③操作方便。 ④适用范围广，适用于各种形状的试件。 ; 3．接触法 优点： 1）多为手动检测，操作方便。 2）设备简单，适合于现场检验，成本较低。 3）入射声能损失少；在相同的探头参数下，可比液浸法提供更高的检测灵敏度。 缺点： 1）受人为因素影响较大，耦合不易稳定。 2）被检表面的表面粗糙度对入射声能损失影响大。 ;4．液浸法 1）优点： ①探头与试件不接触，超声波的发射与接收都比较稳定，可检测粗糙面。 ②探头的角度可任意调节 ③探头不直接接触试件，损坏的可能性小，寿命长。 ④便于实现聚焦声束检测，满足高灵敏度、高分辨率检测的需要。 ⑤便于实现自动检测，减少影响检测可靠性的人为因素。 2）缺点：声能损失大，需要相应的辅助设备。;第六节 超声检测技术的应用 ; 2.入射方向的选择 ; 8.扫查 原则： 1）保证试件的整个检查区有足够的声束覆盖以避免漏检； 2）扫查过程中声束入射方向始终符合规定。 （1）扫查方式 圆盘、长条形、大型轴类 ;9.缺陷位置和长度的确定 （1）缺陷平面位置的确定 获得缺陷的最大反射波所在的位置。（接触法） （2）缺陷埋藏深度的确定 荧光屏的水平刻度上读出。 （3）缺陷长度的确定;;（1）缺陷本身的大小、形状、取向、表面状态及内含物（和基体声阻抗不匹配），以及缺陷的埋藏深度； （2）仪器和探头的特性及它们之间的连接和匹配； （3）试件探测面的形状、粗糙度、基体组织结构等； （4）耦合条件;二、典型构件的超声检测技术 ; （2）锻件中最常见缺陷 缺陷来源：a.由铸锭中缺陷引起的缺陷 b.锻造过程及热处理中产生的缺陷 ; （3）锻件超声检测的特点 检测方法：常采用直探头纵波脉冲反射法。 探头频率：2～10MHz，对组织很细的锻件可选10MHz以上的。 声束入射方向：尽可能使声束方向与锻造流线方向垂直。（见教材P40） 检测时机：原则上应选择在热处理后，冲孔、开槽等精加工工序之前进行。 ;2．铸件缺陷的