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PCB双面板通孔镀铜工艺
7.1制程目的
双面板以上达成钻孔后即进行镀通孔 (PlatedThroughHole,PTH) 步骤,其
目的使孔壁上之非导体部份之树脂及玻纤束进行金属化 (metalization), 以进行
后来之电镀铜制程,达成足够导电及焊接之金属孔壁。
1986年,美国有一家化学企业 Hunt宣布PTH不再需要传统的贵金属及无
电铜的金属化制程,可用碳粉的涂布成为通电的媒介,商名为 Blackhole。之后
陆续有其他不同 base产品上市,国内用户特别多.除传统PTH外,直接电镀
(directplating)本章节也会述及.
7.2制造流程
去毛头→除胶渣→ PTHa一次铜
去巴里 (deburr)
钻完孔后,若是钻孔条件不适合,孔边缘有1.未切断铜丝2.未切断玻纤的残
留,称为burr.因其要断不断,而且粗拙,若不将之去除,可能造成通孔不良及孔小,因
此钻孔后会有de-burr制程.也有de-burr是放在Desmear之后才作业.一般
de-burr是用机器刷磨,且会加入超音涉及高压冲刷的应用 .可参照表4.1.
除胶渣 (Desmear)
A.目的:
Desmear
CreateMicro-rough增加adhesionB.Smear产生的原因:
由于钻孔时造成的高温 Resin超过Tg值,而形成融熔状,终致产生胶
渣。
此胶渣生于内层铜边缘及孔壁区,会造成 P.I.(Poorlnterconnection)
C.Desmear的四种方法:
硫酸法(SulfericAcid) 、电浆法(Plasma)、铬酸法(CromicAcid)、高锰
酸钾法(Permanganate).
硫酸法必须保持高浓度,但硫酸本身为脱水剂很难保持高浓度,且咬
蚀出的孔面圆滑无微孔,并不适用。
b.电浆法效率慢且多为批次生产, 而办理后大多仍必须配合其他湿制程
办理,因此除非生产特殊板大多不予采用。
铬酸法咬蚀速度快,但微孔的产生并不理想,且废水不易办理又有致癌的潜在风险,故渐被淘汰。
高锰酸钾法因配合溶剂制程,能够产生微孔。同时由于复原电极的推出,使槽液安定性获得较佳控制,因此当前较被普遍使用。
高锰酸钾法(KMnO4Process):
A.膨松剂(Sweller):
功能:软化膨松Epoxy,降低Polymer间的键结能,使KMnO4更易咬蚀形成Micro-rough速率作用Concentration
影响因素:见图7.1
c.安全:不可和KMnO4 直接混淆,免得产生强烈氧化复原,发生火灾。
原理解释:
(1)见图7.2
初期溶出可降低较弱的键结, 使其键结间有了明显的差别。 若浸泡
过长,强 的链结也渐次降低,终致整块成为低链结能的表面。如果达到如此状
态,将无法形成不同强度结面。若浸泡太短,则无法形成低键结及键结差别,如
此将使KMnO4咬蚀难以形成蜂窝面,终致影响到 PTH的效果。
SurfaceTension的问题:
不论大小孔皆有可能有气泡残留,而表面力对孔内Wetting也影
响颇大。故 采用较高温操作有助于降低 SurfaceTension 及去除气泡。至于浓
度的问题, 为使Dragout降低减少消耗而使用略低浓度,事实上较高浓度也可
操作且速 度较快。
在制程中必须先 Wetting孔内壁,以后才能使药液进入作用,否
则有空气残 留后续制程更不易进入孔内,其 Smear将不可能去除。
B.除胶剂 (KMnO4):
a.使用KMnO4的原因:选KMnO4而未选NaMnO4是因为KMnO4溶
解度较佳,单价也较低。
反响原理:
4MnO4-+C+4OH- →MnO4=+CO2+2H2O(此为主反响式)
2MnO4-+2OH- →2MnO4=+1/2O2+H2O( 此为高PH值时自
发性分解反响)
MnO4-+H2O→MnO2+2OH-+1/2O2(此为自然反响会造成
Mn+4积淀)
作业方式:早期采氧化增添剂的方式,当前多用电极复原的方式操作,不稳定的问题已获解决。
d.过程中其化学成份状况皆以剖析得悉,但 Mn+7为紫色,Mn+6为绿
色,Mn+4为黑色,可由直观的色度来直接判断大概状态。若有不正常发生,则可能是电极效率出了问题须注意。
e.咬蚀速率的影响因素:见图7.3
电极的利处:
(1).使槽液寿命增长
(2).质量稳定且无By-product,其两者比较如图 7.4:
g.KMnO4形成Micro-rough的原因:由于Sweller造成膨松,且有结合
力之强弱,如此使咬蚀时产生选择性, 而形成所谓的Micro-rough。但如因过分
咬蚀,将再度平滑。
咬蚀能力也会随基材之不同而有所改变
电极必须留神保养,电极效率较难定
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