2021年Ipcq检测室硅块检测流程教学教材.docxVIP

精品学习资料 名师归纳总结——欢迎下载 Ipcq 检测室硅块检测流程：硅块转入 —外观检验 — 垂直度检验 —边宽 /长度检验 —导电类型检验— 电阻率检验 —红外探伤检验— 少子寿命检验—硅块判定 — 硅块转出 Ipcq 检测室硅块检测流程： 硅块转入 —外观检验 — 垂直度检验 —边宽 /长度检验 —导电类型检验 — 电阻率检验 —红外探伤检验 — 少子寿命检验 —硅块判定 — 硅块转 出 硅块检验操作指导步骤 1. 外观检验 1.1 确认所送硅块的箭头标示是否清晰，每个硅块的随工单信息填写 是否完整，且与硅块表面标示信息（硅锭号与硅块号）是否一样，以 及确认边角料的数量； 1.2 与制造部送检人员共同确定每个硅块的外观质量状况， 如有崩边， 崩块等外观问题， 使用游标卡尺测量缺陷的长度 （沿硅锭的长晶方向 测量），并把这些信息精确填写在品质记录表上和对应的硅块随工单 上； 2. 垂直度检测 2.1 抽 样 方 法 ： 小 硅 块 （ 16 块 ） 测 A1,C6,C11,A16; 大 硅 块 测 A1,C7,C13,C19.A25, 进行检测硅块垂直度； 2.2 使用万能角度尺测量硅块四个侧面的垂直度，即相邻两侧面间的 垂直度， 每个抽样硅块测量任意三个角的垂直度， 每个角从硅块头部 到尾部至少均为测量三次，并将检测数据记录于《硅块检测记录表》 中； 2.3 将万能角度尺两臂