产品(显卡)验收标准A0.docxVIP

标题 显卡品质外观检验标准 文件编号 SZGB-WI-QA-032 版次 A1 页次 1/35 制定部门 品质工程部 1.0目的： 在生产过程中，统一而明确产品质量判定标准，确保产品质量能满足或超越客户的需求 2.0适用范围： 用于品管、生产及相关单位对产品外观的判定。 3.0定义： 缺点等级：缺点分为严重、主要及次要缺点三级。 严重缺点(Critical Defect ): 、已造成重要零件、产品损坏。 严重降低产品之使用效能或直接、间接危及人体、财产之安全。 外观严重变形、变色。 规格不符等。 主要缺点(Major Defect ): 降低产品、材料使用性能及寿命，或者可能造成产品损坏、不稳定等状况。 外观有瑕疵，且易辨别。 次要缺点(Minor Defect ): 不影响产品之使用特性功能。 外观稍有瑕疵、不易辨别。 划伤分类： 无感刮伤：用指甲横滑过划伤处，没有停顿感觉的。 有感刮伤：用指甲横滑过划伤处，有停顿感觉的。 区域分类： 金手指重要区域：金手指五等分的中间三等分的部位。 金手指次重要区域：金手指五等分的靠近 PCB4缘一等分的部位。 4.0部门职责 生产部QC依照此对产品外观进行全检。 品质：依照此标准进行判定。 5.0作业说明 检测环境：正常灯光下，目光与检验物体距离 30CM视角90° ±45°。 缺点判定表： 标题 显卡品质外观检验标准 文件编号 SZGB