第八章透射电子显微镜.pptVIP

第八章透射电子显微镜;要求： 1. 掌握TEM的基本构造和各部件的主要功能及分辨本领和放大倍数的测定 2. 掌握TEM的功能特点和功用;TEM是一种价格十分昂贵的设备（ 4-5$/V ） 优点和缺点共存 TEM以不同的形式出现 ，SEM 、STEM、AEM ;1940s后期, 金属薄膜(foil )的成功制备以及直接的TEM观察； Hirsch等人的电子衍射与衍衬理论 《薄晶体的透射电子显微术 》 ;1. B 显微镜和分辨率;孪晶界的高分辨像，白像点表示原子柱，可以直接看出通过孪晶界的原子取向的变化;1. C 电子与材料的相互作用;(a) 一个小云母样品中的X-ray能谱，提供了与电子束相互作用区域的成分特征，从左至右主要的谱峰代表Mg, Al, Si, Fe, Cu等元素, (b) Al-16%Ag合金无沉淀区的TEM像，(c)，(b) 中横线方向上X-ray能谱Ag元素分布的定量分析，显示出无沉淀区形成过程中Ag 的损耗情况.;1.D 衍射;2 TEM的局限性;2.B TEM像的解释;2.C 电子束辐照伤害及安全防护 ;2.D 样品制备;3 TEM的种类;电子显微镜实际上是由多种仪器组成的，换句话说它具有许多的功能，这些功能都是利用电子具有波粒二象性这一性质加以实现的。电子显微镜提供了许多种类的信号，利用这些信号我们可以获得源自于同一个微小