第7章 智能仪器的设计与调试.pptx

第7章 智能仪器的设计与调试; 7.1 智能仪器设计方法　　1. 功能及技术指标应满足要求　　在智能仪器设计中， 首先应按照要求的仪器功能和技术指标进行总体设计。常见的仪器功能有： 输出功能（如显示、 打印）、人机对话功能（如键盘的操作管理、 屏幕的菜单选择）、 通信功能、 出错和超限报警功能等。 常见的技术指标有： 精度（如灵敏度、 线性度、 基本误差以及环境参数对测量影响等）、 被测参数的测量范围、 工作环境（如温度、 湿度、 腐蚀性等）以及稳定性（如连续工作时间）等。;　　2.具有高可靠性　　可靠性就是仪器在规定条件下和规定时间内，完成规定功能的能力。一般用年均无故障时间、故障率、失效率或平均寿命等指标来表示。实践证明，提高仪器可靠性的关键在于提高产品的可靠性设计水平。因此在设计阶段必须充分考虑可靠性问题，在设计方案、元器件选择、工艺过程以及维护性等方面予以全面的考虑，采用成熟的设计技术以及可靠性分析、试验技术，提高产品的固有可靠性。;　　3.便于操作和维护　　在仪器设计过程中，应考虑操作方便，尽量降低对操作人员的专业知识要求，以便产品的推广应用。仪器的控制开关或按键不宜太多、太复杂，操作程序应简单明了，输入输出用十进制数表示，从而使操作者无需专门的训练，便能够掌握仪器的使用方法。　　智能仪器还应有很好的可维护性，为此仪器结构要规范化、模块化，并配有现场故障诊断程序，一旦发生故障，就能保证有效地对故障定位，以便更换相应的模块，使仪器尽快地恢复正常运行。;　　4.仪器工艺及造型设计要求　　仪器工艺流程是影响可靠性的重要因素。要依据仪器工作环境条件是否需要防水、防尘、防爆，是否需要抗冲击、抗振动、抗腐蚀等要求设计工艺流程。仪器的造型设计也极为重要，总体结构的安排、部件间的连接关系以及面板的美化等都必须认真考虑，一般应由结构专业人员设计。;7.1.1智能仪器的设计原则　　1.从整体到局部（自顶向下）的设计原则　　在硬件或软件设计时，应遵循从整体到局部也即自顶向下的设计原则。它把复杂的、难处理的问题分为若干个较简单的、容易处理的问题，再逐个地加以解决。开始设计时，设计人员根据仪器功能和设计要求提出仪器设计的总任务，然后将总任务分解成若干个相互独立的子任务。这些子任务再向下分，直到每个低级的子任务足够简单，可以直接而且容易实现为止。这些低级子任务可用模块方法来实现，可以采用某些通用化的模块（模件），也可作为单独的实体进行设计和调试，并对它们进行各种试验和改进，直至能够以最低的难度和最高的可靠性组成高一级的模块。子任务完成后，将所有模块有机地集合起来，必要时做些调整，即可完成整体设计任务。;　　2.软件、硬件协调原则　　智能仪器的某些功能（如逻辑运算、定时、滤波）既可通过硬件实现，也可通过软件完成。硬件和软件各有特点，使用硬件可以提高仪器的工作速度，减轻软件编程任务。但仪器成本增加，结构较复杂，出现故障的机会增多。以往人们在智能仪器设计中，过多地着眼于降低硬件成本，尽量“以软代硬”。随着LSI（LargeScaleIntegration）芯片功能增强、价格下降，这种情况正在发生着变化。哪些设计子任务应该“以硬代软”,哪些应该“以软代硬”，要根据系统的规模、功能、指标和成本等因素综合考虑。一般的原则是，如果仪器的生产批量较大，应该尽可能压缩硬件投入，用“以软代硬”的办法降低生产成本。此外，凡简单的硬件电路能解决的问题不必用复杂的软件取代；反之，简单的软件能完成的任务也不必去设计复杂的硬件。在具体的设计过程中，为了取得满意的结果，硬件与软件的划分需要多次协调和仔细权衡。;　　3.开放式与组合化设计原则　　在科学技术飞速发展的今天，设计智能仪器系统面临三个突出的问题，即产品更新换代快、市场竞争日趋激烈、如何满足用户不同层次和不断变化的要求。针对上述问题，国外近年来在电子工业和计算机工业中推行一种“开放式系统”的设计思想。向未来的VLSI开放，在技术上兼顾今天和明天，既从当前实际可能出发，又留下容纳未来新技术机会的余地；向系统的不同配套档次及用户不断变化的特殊要求开放。　　设计“开放式系统”的具体方法是，基于国际上流行的工业标准微机总线结构，针对不同的用户系统要求，选用相应的功能模块组成用户应用系统。系统设计者将主要精力放在分析设计目标、确定总体结构、选择系统配件、解决专用软件的开发设计等方面，而不是放在功能模块设计上。;　　开放式体系结构和总线技术的发展，导致了工业测控系统采用组合化设计方法的流行，即针对不同的应用系统要求，选用现成的硬件模块和软件进行组合。组合化设计的基础是软件、硬件功能的模块化。采用组合化设计有以下优点：　　（1）开发设计周期短。组合化设计采用成熟的软件、硬