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統計制程控制Statistical Process Control1924年修華特博士( Dr WA Shewhart ) 在貝而試驗室( BellLaboraty )工作期間發明了品質控制圖.1939年修華特博士與戴明博士(Dr Deming)合作寫了一本『品質觀點的統計方法』第二次世界大戰前后,英、美兩國將品質控制圖的方法引進制造業,並應用於生產過程中美國汽車制造廠, 例如, 福特(FORD) 通用(GM) 等均對SPC十分重視, SPC因此得以廣泛地推廣.統 計 制 程 控 制 的 起 源人設備我們工作的方式/資源的融合材料 產品 顧客方法環境輸出生產過程輸入制 程人統計方法設備我們工作的方式/資源的融合材料 產品 顧客方法環境輸出生產過程輸入什 麼 是 統 計 制 程控 制使用統計技術來分析制程或其輸出,以便采取適當的措施來使制程達到並保持統計管制狀態,預防不良產生,從而提高制程能力.管制圖統 計 手 法查 檢 表推 移 圖 散 布 圖柏 拉 圖直 方 圖層 別 法特性要因圖常 用 統 計 手 法管制上線(UCL)管制中線(CL)管制下線(LCL)收集數據,根據制程過去之能力統計出管制界線,用以判斷制程是否穩定的圖表.管制圖定議確定測量系統,減少不必要的變化確定特性,客戶需求,現有及潛在的問題,特性之間的相關關系計 量 值計 數 值量一量, 稱一稱. 如高度、重量等數一數, 點一點. 如不良數,合格數等收集此類數據管制圖表稱為:計數值管制圖收集此類數據管制圖表稱為:計量值管制圖計數值管制圖與計量值管制圖UCL8.4CL4.3p0.2 LCL 計 數 值 管 制 圖P管制圖(n相等時)日期項目3/13/23/33/43/53/63/7…3/213/223/233/243/25合計檢查數100100100100100100100…1001001001001002500不良數6425354良率6%4 %2 %5 %3 %5 %4 %…4 %5 %4 %7 %3 %/結倫: 點無超限且無規則性,制程在管制狀態內Σpn107CL=P==0.0428(4.3%)=Σn2500p(1- p )UCL=p+30.0428(1-0.0428)=0.0428+3=0.0838(8.4%)n100p(1-p)0.0428(1-0.0428)LCL=p-3=0.0428-3=0.0018(0.2%)n100 P管制圖管制界線統計公式(n相等時)UCL7.14PnCL2.48LCL0 計 數 值 管 制 圖Pn管制圖 批號1264567…2122232425合 計檢查數100100100100100100100…1001001001001002500不良數4345210…311426262ΣPn=CL=Pn=2.48,=25KUCL=Pn+3Pn(1- p )=7.14UCL=Pn-3Pn(1- p )=0 Pn管制圖管制界線統計公式UCL9.58CCL3.76LCL0 計 數 值 管 制 圖C管制圖抽樣數:20PCS批數1234567…2122232425合計污點數4116251…726469494ΣCCL=C===3.76K25=9.58UCL=C+3CC=0LCL=C - 3C管制圖管制界線統計公式10UCLUCL4LCL0 計 數 值 管 制 圖U管制圖日期1/22/23/24/25/26/27/2…21/222/223/224/225/2合 計樣本大小1.01.01.51.51.31.31.3…2.02.01.71.71.737.5缺點數4686742810653144單位缺點數4.06.05.34.05.43.11.5…4.05.03.52.91.7/UCL9.79.78.68.69.09.09.0…8.08.08.38.38.3/LCL0000000…00000/ΣCi144CL=U===3.84Σni37.5UUCL=U+3niULCL=U-3niCi:樣本數中的缺點數ni:個別樣本數U管制圖管制界線統計公式計 數 值 管 制 圖否是樣本數是否為一固定數是不良品而不是缺點是不良品而不是缺點否是否是單位缺點數管制圖不良率管制圖缺點數管制圖不良數管制圖U管制圖P管制圖C管制圖Pn管制圖計數值管制圖的選擇 計量值管制圖(X-R管制圖)7.31UCLX6.47 CL5.63LCL3.06UCLR1.45CLLCL0日期項目12/112/212/312/412/512/612/712/2112/2212/2312/2412/25X17.66.97.07.37.26.08.4…6.85.76.46.46.8X26.76.97.36.56.46.36.0…5.56.37.26