无损检测仪器校验规程.docxVIP

无损检测仪器校验规程 JLXYGC-2005 编制：张铭 胡义昌审批：李兆太 受控□ 非受控□ 分发号： |精. |品. |可. |编. |辑. |学. |习. |资. |料. * | * | * | * | |欢. |迎. |下. |载. 发布： 2005 年 5 月 1 日 执行： 2005 年 6 月 1 日 南京金陵检测工程有限公司 目录 JLXY01-2005 《X 射线探伤机曝光曲线的制作与校验规程》 JLXY02-2005 《超声波探伤仪校验规程》JLXY03-2005 《磁轭式沟通磁粉探伤仪校验规程》JLXY04-2005 《超声波测厚仪校验规程》JLXY05-2005 《黑度计校验规程》 X 射线探伤机曝光曲线的制作与校验规程 JLXY01-2005 |精. |品. |可. |编. |辑. |学. |习. |资. |料. * | * | * | * | |欢. |迎. |下. |载. 编制依据 依据 JB/T4730-2005 标准要求 ,每台在用 X 射线机应制作常常检验材料的曝光曲线；依据曝光曲线挑选曝光参数； 适用范畴 本规程适用于 X 射线机曝光曲线的制作的校验； 应用器材 阶梯试块：阶梯级差为 2mm，每级宽度不少于 15mm， 试块长度和宽度应不小于胶片尺寸，且宽度不小于 100mm，长度不小于 300mm； TD-210 黑度计 胶片及暗