寿命分析报告.docx

xxx公司 xxx寿命分析报告 版本A/0 第 PAGE 3 页/ 共 NUMPAGES 6 页 档号 编号 保管期限 密级 阶段标记 xxx 寿命分析报告 拟 制 审 核 标 审 会签 批 准 版次/修订状态 A/0 总页数： 6 正文页数： 4 附录页数： 0 xxx公司 2017 年 10 月 11 日  目 录 TOC \o 1-3 \h \z \u 1 范围 3 1.1 编写目的 3 1.2 实体说明 3 2 引用文件 3 3 产品定义 3 3.1 主要功能 3 3.2 寿命要求 5 4 贮存寿命分析 5 4.1 影响寿命的因素 5 4.2 设计措施 5 4.3 类似产品情况介绍 6 4.4 已展开的试验验证 6 4.5 薄弱环节分析 6 5 挂飞寿命分析 6 5.1 影响寿命的因素 6 5.2 设计措施 6 5.3 类似产品情况介绍 6 6 结论及措施 6 6.1 结论 6 6.2 措施 7 1 范围 1.1 编写目的 本文针对xxx的贮存、挂飞寿命进行分析，用以识别和发现影响xxx寿命的薄弱环节，采取必要的措施尽量提高寿命，明确有寿件清单，并分析产品到寿后继续使用的可能性。 本文适用于xxx的F阶段研制。 1.2 实体说明 xxx（以下简称产品或xxx）用于某导弹发动机，构成电路的一部分。xxx通过相关电气接口实现与导弹控制线路和装置中的电气连接，实现装置的电性能检测和短路保护的功能，单发配套1台。 2 引用文件 945Axxx技术协议 3 产品定义 3.1 主要功能 xxx由电路板、插座、xxx插座以及短路开关以及xxx组成，结构关系如下图所示。 图1 图2xxx结构组成图 各功能模块工作原理： 3.2 寿命要求 xxx贮存寿命为18年，挂飞寿命为200架次。 4 贮存寿命分析 4.1 影响寿命的因素 影响xxx寿命的主要因素有：高温、低温、潮湿、盐雾、霉菌等。这些因素有可能造成器件或结构老化、生锈、发霉等，造成电路板和器件短路或断路、性能下降。 4.2 设计措施 针对以上现象，xxx采取的主要措施有： 电路板和器件表面采取清漆涂覆，防潮防霉和保证绝缘； 铝合金壳体采取铬酸阳极化防盐雾；短路手柄为不锈钢材料； xxx整体灌封实现保温密封； 体管采用硅晶体管，提高表面允许温度和最高工作温度；在尽量加大元器件之间的间距，充分利用PCB板进行散热； 环境试验温度提高到85℃测试筛选，保证xxx高温下可靠工作。 依据其它产品使用情况，电路板材料以及聚氨酯灌封料和固定用环氧胶能满足贮存18年的要求， 4.3 类似产品情况介绍 xxx材料、器件均为通用常规器件，在各种型号产品中已广泛应用，能满足18年贮存寿命的要求。 4.4 已展开的试验验证 产品经鉴定试验考核，考核通过。 4.5 薄弱环节分析 为满足贮存寿命18年的要求，根据产品组成，影响寿命的薄弱环节见表1。 表1 影响贮存寿命的薄弱环节分析表 名称 代号 用途 贮存失败原因 在类似产品上的使用情况 能达到的寿命及依据 三极管 2SA1213 电容充电控制管 氧化腐蚀 广泛使用 可满足18年寿命要求 PMOS功率管 CSP5305 起爆开关管 氧化腐蚀 广泛使用 可满足18年寿命要求 电容 CT4磁介质电容 起爆电容 介质老化 广泛使用 可满足18年寿命要求 5 挂飞寿命分析 5.1 影响寿命的因素 影响挂飞寿命的因素包括振动、冲击、加速度等，这些因素有可能导致器件损伤或结构失效、紧固件松动、磨损等。 5.2 设计措施 采取的主要措施有： 固定螺钉用环氧胶固定防松； 对大器件及其管脚以及导线焊点用硅橡胶防护； xxx整体灌封聚氨酯胶； xxx轻量化、小型化。 5.3 类似产品情况介绍 采用这种方式的电子产品已广泛应用于各型号中。 6 结论及措施 6.1 结论 根据以上分析，点火盒能满足贮存寿命18年、挂飞寿命200次的要求。 6.2 措施 为保证产品在寿命周期内的正常使用，需要注意以下事项： 对产品进行测试时应按使用说明正确连接，防止损伤连接器结构； 安装或拆卸时应防止损伤安装孔固定螺钉； 包装运输时应做好防护并轻拿轻放； 应按规定的湿度、温度、盐