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电解电容高频性能的测量尝试与分析
索军
2001年 7 月 20 日
在彩电维修中，许多故障是由电容的高频性能下降引起的。这些故障电容
多数外观良好，用指针万用表测其充放电正常且不漏电，用数字电容表测其容
量也正常，因而往往使人错判，维修误入歧途，只有通过代换才能真相大白。
电容的高频性能能否直观有效地测量呢？笔者进展了尝试，测量仪器选用
CM-8601A 数字电容表和 COS5041CH示波器。将示波器置于直流耦合方式，探
头针接电容表正表笔，探头地接电容表负表笔。被测电容为三洋 80P 开关电源
的脉宽调制故障电容 C314(47 μF50V)／ 和同规格的正常电容。将电容表置于
2000 μF档，测得的正常电容和故障电容波形分别示于图 1 的【a】和【b】。由图
1 可见两者有明显差异： 在波形剧变处， 故障电容从 0.6V 充电至 1.5V，或从 2.6V
放电至 1.8V 几乎不需要时间。之所以说不需要时间，是因为这两段波形轨迹在
L N
K M
KLMN 四角不光滑
【a】
2.6V
L N
1.5V 1.8V KLMN 四角看不见
K M
0.6V
【b】
图 1 〔频率8Hz ，占空系数 50% ，幅度 2.0V P-P 〕
示波器上因速度太快而看不见，这说明在此瞬间故障电容的容量几乎为零。由
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于波形发生剧变的瞬间，频率最高，所以称故障电容的高频性能下降是科学的。
为了模拟故障电容，在正常电容上先后两次分别串接一个适宜的电感或低
阻值电位器，并进展了同样的测试。结果说明，串接电感的波形因有尖刺而实
验失败，串接电位器实验成功。当调至 16 Ω时，测得的波形与图 1(b)一样。至
此终于搞清楚，所谓的高频性能下降，是因为电容的电阻增大。
现在有几个问题值得探讨。
1.小小的 16 Ω电阻竟能使 47 μF电容在高频下容量降为零吗？
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一个电阻 R 与一个电容 C 的串联电路阻抗 |Z|=
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