LPDDR测试方法、装置、可读存储介质及电子设备与流程_1.docxVIP

LPDDR测试方法、装置、可读存储介质及电子设备与流程 本创造涉及存储设备测试领域，尤其涉及一种lpddr测试方法、装置、可读存储介质及电子设备。背景技术：随着物联网的快速进展，便携式移动设备取代了传统电脑的大部分功能。由于便携式移动设备对低功耗的严格要求，所以lpddr(lowpowerdoubledataratesdram，低功耗内存)就成为便携式移动设备中主要的存储部件。而为了保证lpddr在便携式移动设备中的牢靠性用法，就需要对其进行测试。但是，与标准的内存条测试方式相比，现有对于lpddr芯片的平台测试方式较少，通常还是需要人工进行测试，效率低下，并且人力成本高。技术实现要素：本创造所要解决的技术问题是：供应一种lpddr测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，提高对lpddr的测试效率，降低测试成本。为了解决上述技术问题，本创造接受的一种技术方案为：一种lpddr测试方法，包括步骤：接收测试开头命令，依据所述测试开头命令将待测试的lpddr芯片放置于基于intel的测试主板对应的位置，并将所述待测试的lpddr芯片与所述测试主板连接；发送测试主板上电命令，触发所述测试主板上电；发送测试主板启动命令，触发所述测试主板启动并下载测试软件；接收所述测试软件对所述待测试的lpddr芯片进行读写扫描测试后的测试结果。为了解决上述技术问题