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XRD简介及其应用 mmjjcs168@ 2019年6月29日星期六 第一页，编辑于星期一：二十二点 三十六分。 主要内容 XRD（X-Ray Diffraction）主要用于物相分析和晶体结构的测定，它所获取的所有信息都基于材料的结构。 第二页，编辑于星期一：二十二点 三十六分。 目 录 §1 基础知识 §2 X射线衍射原理及分析方法 §3 Highscore软件使用 第三页，编辑于星期一：二十二点 三十六分。 §1 基础知识 1、X射线概述 1895年：德国科学家伦琴发现了X射线（1901年获得首届诺贝尔奖）； 1908～1911年：巴克拉测定了X射线谱 ； 1912年：德国科学家劳厄发现X射线在晶体中的衍射现象，印证了X射线是电磁波（1914年获得诺贝尔奖）； 1912年：英国科学家Bragg父子利用X射线衍射测定了NaCl晶体的结构，开创了X射线晶体结构分析的历史（1915年获得诺贝尔奖)。 第四页，编辑于星期一：二十二点 三十六分。 （1）X射线特点 X射线波长范围0.001-10nm，在电磁波谱上处于紫外与 γ 射线之间, 适用于衍射分析的X射线波长0.05-0.25nm。 1.1 X射线的特点及其产生 第五页，编辑于星期一：二十二点 三十六分。 穿透能力很强，可以穿透2～3cm厚的木板，1.5cm的