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实验一基本门电路及数字电路实验箱的使用 一、 实验目的 1、 熟悉各种基本逻辑门电路的逻辑符和逻辑功能。 2、 掌握集成门电路器件的使用及逻辑功能测试方法。 3、 熟悉数字电路实/箱的结构、基木功能和使用方法。 二、 实验器材 1、 THD-4型数字电路实验箱一台（双列直插式集成电路插座、+5V直流电源、逻辑电 平开关、LED发光二极管显示器） 2、 集成芯片 74LS00 （四输入与非门）、74LS20 （双四输入与非门）、74LS86 （四输入异或门） 三、实验原理 集成逻辑门电路是最简単和最基本的数字集成元件。任何复杂的组合电路和时序电路都 可用逻辑门通过适当的组合连接而成。基木逻辑运算冇与、或、非运算，相应的基木逻 辑门有与、或、非门。目前已有门类齐全的集成门电路，如与非门、或非门异或门等。 虽然大、中规模集成电路相继问世，但要组成某一个系统时，仍少不了各种门电路。 TTL集成电路由于工作速度快，输出幅度大，种类多，不易损坏等特点而使用较广。 CMOS集成电路功耗低，输出幅度大，扇出能力强，电源范围较宽，应用也很广泛。 四、实验内容介绍熟悉数字电路实验箱掌握本实软所在芯片的管脚识别方法。nri ra nri ra iti (T1Vcc同冋冋 四、实验内容 介绍熟悉数字电路实验箱 掌握本实软所在芯片的管脚识别方法。 nri ra nri ra iti (T1 Vcc 同冋冋 E 冋 [T] )LiJ 1、 2、 Vcc 冋 GND ) I I , I. , I I,,2J L1J LiJ L±l L1J I±1 LzJ GND 74LS00外引线排列图 74LS00外引线排列图 74LS20外引线排列图 74LS86外引线排列图 3、74LS00 ?j非门逻辑功能的测试 4 4、74LS20与非门逻辑功能的测试 输入 输入 输出 A B Q 0 0 0 1 1 0 1 1 A B C DQ 二 A B C D Q 二 ABCD 输入 输出 A B C D Q 1111 0 111 10 11 110 1 1110 5 5、74LS86异或门逻辑功能的测试 输入输出 输入 输出 A B Q 0 0 0 1 1 0 1 1 五、实验注意事项 不得插反。1、 接插集成芯片时，要认清定位标志 不得插反。 2、 今天所使用集成芯片是双列直插式14引脚芯片，其7脚接地，14脚接+5V,实验 中电源极性绝对不允许接错。 3、所有的集成芯片都必须加电源驱动。 3、 4、 逻辑门电路输出端不允许直接接地或直接接+5V电源，否则将损坏器件，这就要求 在接线，拆线或改接电路时，一定要断开电源。 5、 悬空，相当于高电平（状态为1）,对于比较简单的电路，实验允许悬空处理但易受 外界干扰，导致电路的逻辑功能不正常，因此，对于使用集成芯片较多的复杂电路, 不允许悬空。 六、实验成绩 实验成绩为考査，考査成绩即每次实验的平均成绩 每次实验成绩==预习报告（预习分10%）+实验操作（操作分40%） +实验报告（报告分50%） 实验二组合逻辑电路的分析 预习：1、半加器与全加器的逻辑功能 2、 作出用与非门（74LS00）组成半加器的实验电路及真值表 3、 作出用异或门（74LS86）组成半加器的实验电路及真值表 4、 作出用与止门（74LS00）组成全加器的实验电路及真值表