TS16949五大工具教材.pptVIP

* 7.6.1 测量系统分析 为分析各种测量和试验设备系统得出的结果中呈现的变差，应进行统计研究。此要求应适 用于控制计划中提及的测量系统。所用的分析方法及接受准则应符合顾客关于测量系统分 析的参考手册的要求。如果得到顾客的批准，也可使用其他分析方法和接受准则。 测量系统分析与控制计划及APQP的关系 控制计划中“评价及测量技术”栏目中所体现的测量和试验系统都必须进行测量系统分析。 APQP的小组准备工作中，项目进度策划应考虑所需的测量系统分析，过程设计和开发阶段（ 第三阶段）应确定测量系统分析计划，产品和过程确认（第四阶段）应按计划进行所需的 测量系统分析。 测量系统分析与PPAP的关系 PPAP要求对新的或改进后的量具、测量、试验系统进行分析。保存并在客户要求时提交。 测量系统分析与SPC的关系 进行SPC研究的测量系统应在进行SPC研究前进行测量系统分析，且结果须符合接受准则。 测量系统分析与FMEA的关系 FMEA中未体现对测量系统分析的要求。 工具之MSA MSA与其他工具之间的关系 * 计量型 位置分析 离散分析 偏倚分析 线性分析 重复性分析 再现性分析 稳定性分析 计数型 MSA 信号探测法 假设试验分析法 测量系统分析方法 * 测量误差主要来源于重复性和再现性； 偏倚和线性由测量系统的系统误差构成；精确度由随机误差构成；重复性由测量系统内部变差构成；再现性由系统之间（条件）变差构成； 计量型测量系统通常要求对重复性和再现性进行分析，内部或外部校验分析其偏倚、线性，量具各种量程都使用得到（如用于实验室） ，则先分析线性再偏倚，量具只有个别量程使用到则仅分析其偏倚，量具非完全自动的，需分析其重复性和再现性。量具完全自动的，不需分析其再现性，但是需再分析其稳定性。 测量系统分析方法选择 * 测量系统分析方法： 计量型测量系统（测量结果连续） 原则上需要进行五性分析，即重复性、再现性、偏倚、线性和稳定性。 测量误差主要来源于重复性和再现性。 客户认可情况下，后三性可以采用外校替代。 如测量系统不因人员产生变差（如电子称），则再现性可以忽略（即进行分析时只选择一个评价人）。 重复性和再现性评价准则（均值图有一半或一半以上的点在控制限外，极差图不能有点在控制限外，ndc ≥5）及如下： %GRR＜10%，测量系统可以接受。 10%≤%GRR ＜30%，视测量特性的重要性，测量设备的成本、维修成本，测量系统可能是可以接受的。 %GRR≥30%，测量系统不能接受，必须改进。 * 测量系统分析方法： 计数型测量系统（测量结果离散） 具有计数型+更高一级的计量型测量系统可采用信号探测法。 重复性和再现性评价准则如下 %GRR＜10%，测量系统可以接受。 10%≤%GRR ＜30%，通常是可以接受的。 %GRR≥30%，测量系统不能接受，必须改进。 只有计数型的测量系统可采用假设试验分析法 Kappa ≥ 0.75，一致性良好。 * GRR分析主要注意事项： 测量人员：必须熟悉测量仪器的使用 取样应具有代表性 所取样品应该尽量覆盖整个过程变差（样品不可以在生产过程中连续取样，可以按规定的时间间隔及人、机、料、法、环变化时取样，最好事先选取，如尺寸规格为10.0±0.05，实际过程变差10.0±0.04，取样时尽量覆盖9.96-10.04）。 测量的要求：盲测 评价人不知自已测量的样品的编号，但记录的人员必须知道，且每个评价人间不知道其他评价人的测量结果。 判定准则 1. Xbar图约有一半或一半以上的点在控制限外才OK（控制限为测量系统变差的控制限而产品均值包含测量系统变差和产品变差）。 2.R图不能有点落在控制限外的情形出现。 3. ndc≥5同下列同时配合进行判定。 4. %GRR＜10%，测量系统可以接受。 10%≤%GRR ＜30%，测量系统视测量特性的重要性、测量设备成本、维修成本等可能可以接受。 %GRR≥30%，测量系统不能接受，必须改进。 GRR重复性和再现性分析 * GRR分析主要注意事项续： 不合格改进指南 确认每个评价人针对样件的极差R。 确认每个零件的均值Xp变异是否覆盖过程变差(即Rp够不够大）。 不具代表性的取法 具代表性的取法 GRR重复性和再现性分析-续 * 确定要分析的测量系统 特性及样本选择 请三个测量人员，盲测3次 输入EXCEL表格中 计算%GRR值 判定%GRR是否合格 保留记录 分析方法及注意事项： 测量系统：通常针对控制计划中的计数型测量系统（需要同时具备计数型及更高一级计量型测量系统）。 特性：针对控制计划中的质量特性。样本：≥50PCS（覆盖整个过程变差且必须有I、II、