武汉大学分析化学 表面分析方法.pptxVIP

会计学;7.2. 光电子能谱法;物质受光作用释放出电子的现象称为光电效应。 光电离作用： 光子的能量： ; 电子能谱法所能研究的信息深度d取决于逸出电子的非弹性碰撞平均自由程λ。 所谓平均自由程(电子逸出深度)是指电子在经受非弹性碰撞前所经历的平均距离。电子平均自由程λ与其动能大小和样品性质有关，金属中为0.5 ～ 2 nm，氧化物中为1.5 ～ 4 nm，有机和高分子化合物中为4 ～ 10 nm。一般认为d =3λ。 电子能谱的取样深度一般很浅，在30 nm以内，是一种表面分析技术。; 瑞典Uppsala大学Siegbahn K M(1981年诺贝尔物理学奖获得者)及其同事建立的一种分析方法。 理论依据是Einstein的光电子发射公式（光电效应），实际分析中，不仅用XPS测定轨道电子结合能，还经常用量子化学方法进行计算，并将两者进行比较。 由于各种原子、分子的轨道电子结合能是一定的，XPS可用来测定固体表面的电子结构和表面组分的化学成分，因此，XPS又称为化学分析光电子能谱法（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis，ESCA）。;;;;;;;;;;;;;;—电子能量分析器;—电子能量分析器;—电子能量分析器;;;;;;;;7.3. 二次离子质