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不合格率的p图 数据收集 选择子组的容量、频率和数量 子组容量(n=50~200) 分组频率 子组的数量(25) 计算每个子组的不合格率（p） 记录每个子组的下列值 被检项目的数量——n 发现的不合格项目——np 计算不合格率p=np/p 选择控制图的坐标刻度（1.5~2倍） 将不合格品率描绘在控制图上 ?John Z. Rao 2001 * 第二十九页，共五十页。 不合格率的p图 计算控制界限 计算过程平均不合格品率 P= 计算上、下控制界限（UCL、LCL） UCL=p+3 LCL=p- 画线并标注 过程平均——水平实线 控制线路（UCL、LCL）——水平虚线 ?John Z. Rao 2001 * 第三十页，共五十页。 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?不变 ?倾向性变化 ?John Z. Rao 2001 * 第三十一页，共五十页。 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?不变 ?无规律变化 ?John Z. Rao 2001 * 第三十二页，共五十页。 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?规律性变化 ?不变 ?John Z. Rao 2001 * 第三十三页，共五十页。 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?无规律变化 ?不变 ?John Z. Rao 2001 * 第三十四页，共五十页。 ?、?变化示意图 时间 特性值 ?无规律变化 ?无规律变化 ?John Z. Rao 2001