量测系统分析MSA.ppt

定期(时、天、周)对标准件或样本量测3～5次. 注意, 决定样本量及频度的考虑因素应包括要求多长时间重新校正或修理次数, 量测系统使用的频度与操作环境(条件)等. 将量测(数据)值标记在X-R CHART 或X–S CHART上. 计算管制界限, 确定每个曲线的控制限并按标准图判断失控或不稳定状态 。 第二版 27/57 第三十页，共六十七页。 计算标准差, 并与量测过程偏差相比较, 以评估量测系统的重复性是否适于应用.不可以发生此项之标准大于过程标准差之现象，如果有发生此现象，代表量测之变异大于制程变异，此项仪器是不可接受的 。 第二版 28/57 第三十一页，共六十七页。 稳定性之判定：稳定性之判定一般之方式和控制图之判定方式是一致的，(一)不可以有点子超出控制界限，(二)不可以有连续三点中有二点在A区或A区以外之位置，(三)不可以有连续五点中有四点在B区或B区以外之位置，(四)不可有连续八点在控制图之同一侧，(五)不可以有连续七点持续上升或下降之情形；如果有以上之情形，代表仪器已不稳定，须做维修或调整，维修及调整完后须再做校正以及稳定性之分析 。 第二版 29/57 第三十二页，共六十七页。 偏移（Bias） 偏移又称为准确度（Accuracy），是指量测观察平均值 与基准值的差值，而基准值可籍由较高等级的量具量测 数次的平均值而得，偏移可以下面图形表示： 偏移（标准度） VT VA VT：基准差 VA：量测平均值 第三十三页，共六十七页。 偏倚分析之执行 (Bias) 独立取样法 : 选取一个样品, 并建立可追溯标准之真值或基准值, 若无样本则可从生产线中取一个落在中心值域的零件, 当成标准值, 且应针对预期测试值的最低值、最高值及中程数的标准各取得样本或标准件,每个样本都要求单独分析，并对每个样本或标准件量测10次, 计算其平均值, 将其当成 “基准值” . 由一位作业者以常规方式对每个样本或标准件量测10次. 并计算出平均值, 此值为 “观测平均值” . 第二版 30/57 第三十四页，共六十七页。 计算偏倚 : 偏倚= 观察平均值（VA） – 基准值（VT） 制程变异= 6σ（ ? 3σ） 如果需要一个指数，把偏倚乘以100再除以过程变差(或公差)，就把偏倚转化为过程变差(或公差)的百分比，偏倚占过程变差的百分比计算如下： 偏倚%=100[(偏倚)/过程变差] 偏倚占公差百分比采用同样方法计算，式中用公差代替过程变差。 第二版 31/57 第三十五页，共六十七页。 偏移（Bias） （例3）1位作业者量测1个零件10次，量测值如下： X1=0.75 X6=0.80 X2=0.75 X7=0.75 X3=0.80 X8=0.75 X4=0.80 X9=0.75 X5=0.65 X10=0.70 量测平均值VA= Xi/10=0.75, 已知该零件的基准值VT为0.8mm，零 件的过程变差为0.70 mm 则 Bias=VA-VT=0.75-0.80=-0.05 % Bias=100（| Bias |/过程变差） =100（0.05/0.70）=7.1% 第三十六页，共六十七页。 判定:针对偏倚之部份，判定之原则为： 重要特性部份其偏倚%须=10%； 一般特性其偏倚%须30%；应依据仪器之使用目的来说明其接受之原因。 其偏倚%大于30%者，此项仪器不适合使用。 第二版 32/57 第三十七页，共六十七页。 如果偏倚较大，查找以下可能的原因： 标准或基准值误差，检验校准程序。 仪器磨损，主要表现在稳定性分析上，应制定维护或重新修理的计划。 制造的仪器尺寸不对。 仪器量测了错误的特性。 仪器校准不正确，复查校准方法。 评价人员操作仪器不当，复查检验方法。 仪器修正计算不正确。 第二版 33/57 第三十八页，共六十七页。 线性分析之执行(Linear) 独立取样法 : 针对产品所须使用之范围，利用标准件或产品样本(一般区分为五个等分，其范围须包括产品之规格公差之范围)来做仪器之线性分析，如果是采用标准件须有真值，如果是使用产品样本时，则这些的产品样本须先经精密量测十次以上，再予以平均，以此当做是「真值」或「基准值」 。 由一位作业者以常规方式对每个样本或标准件量测10次. 并计算出平均值, 此值为 “观察平均值” . 第二版 34/57 第三十九页，共六十七页。 计算偏倚 : 偏倚= 观察平均值 – 基准值 过程变差= 6σ（?3σ） 绘图 : X