《纳米材料基础与应用》第4章 纳米微粒分析.pptVIP

纳米材料基础与应用 * 4.1.3 X射线衍射宽化 4-3：TiO2纳米材料晶粒大小测定。对于TiO2纳米粉体，衍射峰2θ为21.5°时对应的晶面为(101)，当采用波长为0.154nm的Cu Kα线测定（101）晶面时，衍射峰如图所示，测量半高宽B1/2为0.375°。 根据Scherrer公式，计算获得晶粒的尺寸。 解： 由Scherrer公式： ΔB =0.375o = 0.00654弧度 d101＝0.89×0.154 nm/[0.00654 ×cos(21.5/2)o] = 21.3nm 纳米材料基础与应用 * 4.1.4 比表面积法（Specific Surface Area Method） 比表面积（specific surface area）法主要是通过测定粉体单位质量的比表面积Sw，由下式计算纳米粉中粒子直径(设颗粒呈球形)： 式中，ρ为对应块体密度，d为颗粒比表面积等效直径 纳米材料基础与应用 * 4.1.4 比表面积法（Specific Surface Area Method） 该方法的优点是设备简单，测试速度快，但它仅是纳米粉末的比表面积的信息，通过换算可以得到平均粒径的信息。但不能知道其粒度分布的情况。 测定粉末比表面积的方法很多，如空气透过法、BET吸附法、浸润热法、压汞法等，在以上方法中，BET低温氮吸附法是