第二章 噪声源.ppt

编辑ppt 编辑ppt 编辑ppt 第二章 噪声源 噪声在实际的光电探测系统中是极其有害的。由于噪声总是与有用信号混在一起，因而影响对信号特别是微弱信号的正确探测。 一个光电探测系统的极限探测能力往往由探测系统的噪声所限制。所以在精密测量、通讯、自动控制、核探测等领域，减小和消除噪声是十分重要的问题。 光电探测系统包含光探测器、电子学系统(例如低噪声前置放大器等)、光学系统等。因此，系统在工作时，总会受到一些无用信号的干扰， 例如：光电变换中光电子随机起伏的干扰； 辐射光场在传输过程中受到通道的影响 背景光的干扰； 放大器引入的干扰等等。 一. 噪声的基本概念 探测器 噪 声 光子噪声 电路噪声 这些干扰及扰动主要来自两方面： (1)来自被研究系统的外部 (2)来自被研究系统的内部 (1)来自被研究系统的外部 通常由电、磁、机械、杂散光等因素所引起，这种干扰绝大多数是“人为的”，如： ●电源50Hz干扰； ●工业设备电火花干扰等。 但这种干扰多具有一定规律性，采取适当的措施(如屏蔽、滤波、远离噪声源等)可以将其减小或消除。 (2)来自被研究系统内部 来自被研究系统内部的材料、器件或固有的物理过程的自然扰动。 例如： ●导体中带电粒子无规则运动引起的热噪声； ●光探测过程中光子计数引起的散粒噪声