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- 2022-09-03 发布于四川
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Fescher投影式 D(+)-甘油醛 L(-)-甘油醛 OH HO 2.命名 (1)相对构型 D/L命名法 (2)绝对构型 R/S命名法 系统命名法用以“基团次序”规则为基础的R/S命名法命名绝对构型。 R:Retus (拉丁文,右) S:Sinister(拉丁文,左) D(-)-乳酸 L(+)-乳酸 R- S- (+) (-) D- 、L- R- 、S- 之间没有任何必然的联系。 Fischer投影式在纸平面上转动90°或90°的奇数倍,所得构型相反。例: Fischer投影式在纸平面上转动90°的偶数倍,所得构型不变。 将Fischer投影式的 C*任意两个原子或基团对调, C*构型改变。 将Fischer投影式的 C*任意 3 个原子或基团按一定方向依次调换位置, C*构型不变。 三、含两个不同手性碳原子的化合物 2-氯-3-碘丁烷 2,3-二羟基丁烷 22 =4→两对对映体→两对对映体之间,彼此两两互为非对映体。 (2S,3R) (2R,3S) (2S,3S) (2R,3R) 分子式、结构式相同,含n个不相同手性碳原子→旋光异构体总数 =2n 四、含两个相同手性碳原子的化合物 分子式、结构式相同,含两个相同手性碳原子→旋光异构体总数=3→一对对映体和一个内消旋体→一对对映体和内消旋体之间,彼此两两互为非对映体。 酒石酸 (2R,3R) (2S,3S) 一对对映体 (2S,3R) 内消旋体(meso-) 寻找 的应用 光学干涉 光的干涉是光的波动性的表现。两束相干光波在空间相遇时形成干涉条纹,获得光干涉的装置有分振幅法和分波阵面法二种,典型的分振幅法干涉装置是牛顿环和劈尖装置。它们产生的干涉条纹亮度大。目前广泛应用于生产中,如测量光波波长,曲率半径,检测光学表面质量等。 图11-1 等厚干涉的形成 等厚干涉 如图11-1所示,玻璃板A和玻璃板B二者叠放起来,中间加有一层空气(即形成了空气劈尖)。设光线1垂直入射到厚度为d的空气薄膜上。入射光线在A板下表面和B板上表面分别产生反射光线2和2′,二者在A板上方相遇,由于两束光线都是由光线1分出来的(分振幅法),故频率相同、相位差恒定(与该处空气厚度d有关)、振动方向相同,因而会产生干涉。 根据干涉条件,当光程差为波长的整数倍时相互加强,出现亮纹;为半波长的奇数倍时互相减弱,出现暗纹。 因此有: 光程差取决于产生反射光的薄膜厚度。同一条干涉条纹所对应的空气厚度相同,故称为等厚干涉。 我们现在考虑光线2和2′的光程差与空气薄膜厚度的关系。显然光线2′比光线2多传播了一段距离2d。此外,由于反射光线2′是由光密媒质(玻璃)向光疏媒质(空气)反射,会产生半波损失。故总的光程差还应加上半个波长 ,即 。 根据光的干涉原理可导出第K级暗环半径rk与R的关系式: rk2 = KRλ 透镜由于自重使球面与平面接触点变成面,给测量值带来误差,为减少这种误差可采用第m与第n级暗环半径平方之差,又因圆心不易确定,故用直径替换半径,得 ? ? 若已知λ,测出第m环和第n环的直径Dm、Dn,便可算出R。 一、测量凸透镜的曲率半径R(牛顿环) 二、测量微小厚度(劈尖干涉) 在劈尖架上两个光学平玻璃板中间的一端插入一薄片(或细丝),则在两玻璃板间形成一空气劈尖。当一束平行单色光垂直照射时,则被劈尖薄膜上下两表面反射的两束光进行相干叠加,形成干涉条纹。其光程差为: (d为空气隙的厚度) 产生的干涉条纹是一簇与两玻璃板交接线平行且间隔相等的平行条纹,如图11-3所示。 同样根据牛顿环的明暗纹条件有: 图11-3 劈尖干涉测厚度示意图 m=1,2,3……时,为干涉暗纹。 m=1,2,3… 时,为干涉明纹。 显然,同一明纹或同一暗纹都对应相同厚度的空气层,因而是等厚干涉。同样易得,两相邻明条纹(或暗条纹)对应空气层厚度差都等于 ;则第级暗条纹对应的空气层厚度为:
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