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实验一 门电路逻辑功能测试
一、实验目的
1．掌握CMOS、TTL集成与非门的逻辑功能测试方法。
2．掌握CMOS、TTL器件的使用规则。
3．熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法
二、实验内容
1．验证CMOS（TTL）集成与非门74HC00（74LS00）的逻辑功能。
2．74HC00（74LS00）电压传输特性测试。
三、实验设备及器件
数字电路实验台、74HC00（74LS00）、万用表
四、实验原理
1．芯片介绍
本实验采用二输入四与非门74HC00（74LS00），在一块集成块内含有四个相互独立的与非门，每个与非门有两个输入端，其引脚排列如图1所示。
图1? 74LS00（74HC00）引脚图? ? ? ? ? ? ? ? ?
与非门的逻辑功能实：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有0得1，全1得0）。
2.74HC00（74LS00）电压传输特性
门的输出电压VO随输入电压VI 而变化的曲线，称为门的电压传输特性，通过它可以读得门电路的一些重要参数，如输出高电平VOH、输出低电平VOL、阈值电压VTH、及抗干扰容限等值。测试电路如图2所示。采用逐点测试法，及调节滑动变阻器，逐点测得VI和VO，然后绘制曲线。
图2? 74HC00（74LS00）电压传输特性测试电路
五、实验步骤
1. 测试74HC00（74LS00）的逻辑功能
门的输入端接逻辑电平开关输出插口，以提供0与1电平信号，开关向上，输出为逻辑1，向下为逻辑0。门的输出端接由LED发光二极管组成的逻辑电平显示器（又称0-1指示器）的显示插口，LED亮为逻辑1，不亮为逻辑0。按表1逐个测试集成块中与非门的逻辑功能，判断芯片逻辑功能是否正常。
表1? 74HC00（74LS00）逻辑功能
A
B
Y
0
0
0
1
1
0
1
1
2. 测试相关数据，并绘制电压传输特性曲线图。
按图2接线，调节电位器RW，使VI 从0V向高电平变化，逐点测得VI和VO的 对应值，记入表2中（芯片采用TTL门电路74LS00时，记入表3中）。表格记录数据也可自己设计。
表2
Ui(V)
0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.2
2.4
2.5
2.6
2.8
3.0
3.5
4.0
Uo(v)
Ui(V)
4.5
5.0
Uo(v)
表3
Ui(V)
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
1.4
1.6
1.8
2.0
2.5
3.0
Uo(v)
Ui(V)
3.5
4.0
4.5
5.0
Uo(v)
六、实验总结
1. 写出本次实验学到的知识与技能。
2. 写出实验中遇到的问题，解决的方法。
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