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0.?? 引 言
由于存在衍射极限,传统的显微镜不能分辨200 nm以下的物体[1]。为突破衍射极限限制以获取超分辨显微图像,是科学研究的前沿热点领域之一。多种代表性的技术方法相继出现,如基于荧光的超分辨技术: 受激发射损耗(STED)显微技术[2]、 光激活定位显微(PALM)技术[3],基于结构光照明显微 (SIM)技术[4],基于表面等离子激元 (SPP)的超分辨显微技术[5]等等。然而,这些方法或者仪器搭建复杂;或者必须对样品进行荧光标记,不可避免会污染样品;又或者需要后期进行数据处理,因此研究人员仍在不断探索新的技术。
2004年,Zhigang Chen等[6]发现当平面波照射微米
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