第八章 颗粒物CEMS的相关校准(使用）.ppt

相关曲线模型的选择 * 颗粒物CEMS的应用 1、光电透射法 2、光闪烁法 3、电荷法 4、激光散射法 5、 β射线法 * 颗粒物CEMS * 颗粒物CEMS分析原理和取样方式 物理特性 仪器方法 常用取样方式 光学 光电透射法 直读式 光散射法 直读式 光闪烁 直读式 原子核放射性 β射线法 直接抽取式、稀释抽取式 电学 电荷法 直读式 其它 机械震动法、声能测量法等 1.光电透射法 2.光闪烁 3. 光散射法 4. β射线法 5.电荷法 颗粒物CEMS-光电透射法 * 1）单光程、双光程 2）红光或远红外 3）技术特点： 可以连续监测整个烟道截面的颗粒物浓度； 因振动、温度等因素易使光路准直发生偏移； 光学器件易受烟气污染，应定期擦拭； 受烟气中颗粒物特性及尺寸分布的影响； 对于湿式除尘器的场合，选用应慎重； 不适合低浓度 颗粒物CEMS-光闪烁法 1）不适合低浓度 2）流速影响 3）颗粒物密度影响 4）液滴影响 * 光闪烁=浊度变化/浊度=kc 颗粒物CEMS-光散射法 * 技术特点： 1）易安装维护 2）适合低浓度 3）受烟气中颗粒物特性及尺寸分布的影响 4）液滴影响 5）红光与可见光选择 颗粒物CEMS- β射线法 * 技术特点： 1）直接测量质量浓度 2）不受颗粒物特性影响 3）不受液滴影响 4）抽取式采样存在的一些困难，如烟尘的等速采样、烟尘在管线内的沉积、烟气的冷凝等都需要克服 颗粒物CEMS-电荷法 * 1）两种不相同的物质接触时，将产生电荷的转移。 2）电荷的转移量与相接触粒子的电阻、介电常数、粒子形状、接触时间以及接触面积等因素相关。 3）颗粒物表面的静电沉积以及较小颗粒物随烟气流动，却从来不和金属探针接触，都极大地影响仪器定量测量颗粒物浓度。 相关校准程序 2、颗粒物CEMS的安装位置 颗粒物CEMS必须安装在以手工标准分析方法为准颗粒物排放最具代表性的地方，原则上应符合HJ/T75-2007中相关条款要求，只有如此，在颗粒物CEMS的响应和手工标准分析方法之间的相关校准关联才可能符合性能技术规范。 慎重选择取样孔和测量点以最小化湍动，旋流以及颗粒物分成所带来的影响。 * 相关校准程序 3、颗粒物CEMS数据记录 颗粒物CEMS和其数据日志必须正确记录所有正常和异常的排放数据，必须确保数据日志正确记录颗粒物CEMS的监测状态。 * 相关校准程序 4、颗粒物CEMS数据的评价 评价每日的漂移数据，以便对正确的操作进行归档，同时确保任何系统的相关信息均在颗粒物CEMS的典型操作范围内。 5、颗粒物CEMS的正常操作 确保颗粒物CEMS的正常操作。观察颗粒物CEMS在正常排放和改变控制参数条件下的响应情况，确保颗粒物CEMS被正确设置在污染源的排放浓度范围内。利用这些信息有助于构建在颗粒物CEMS响应和手工标准分析方法间的关联。 * 相关校准程序 6、相关校准测试 密切关注准确性和操作细节。颗粒物CEMS必须正确操作，同时准确地进行手工标准分析方法的操作，仔细地消除现场系统误差。 均衡考虑手工标准分析方法的取样时间和颗粒物CEMS的时间，以使两者匹配。至少获得15个手工标准分析方法数据，手工标准分析方法的测试应在颗粒物CEMS响应的整个范围内，这可以在污染源的正常操作条件下和通过调整控制设施的参数以产生更为广泛的排放浓度。 * 相关校准程序 7、手工标准分析方法测试 手工标准分析方法的测量必须与颗粒物CEMS和过程操作紧密配合并符合相应的技术规范(GB/T16157-1996)。手工标准分析方法测试应在合格的颗粒物浓度范围内，此颗粒物浓度范围与正常过程和控制设备操作条件相符合。相关校准中标准分析方法并不服务作例行的污染源监测报告测试，监测报告中的标准分析方法测试可以在一个小时内进行典型的最小测试期。 * 相关校准程序 8、手工标准分析方法数据和颗粒物CEMS数据处理 手工标准分析方法数据和颗粒物CEMS数据处理完成以下各操作中的每一步。 ①从数据的有效性和质量保证，质量控制角度取舍手工标准分析方法数据； ②从数据的有效性和质量保证角度取舍颗粒物CEMS数据； ③将手工标准分析方法数据转换为符合颗粒物CEMS测量条件下的测量单位； ④计算相关系数，置信区间半宽和允许区间半宽。 * 第三节 漂移 一、漂移检查的基本要求 在进行相关校准前，颗粒物CEMS必须通过7d的漂移测试，性能指标应符合HJ/T 76-2007中要求。 1、颗粒物CEMS必须能够进行在线的零点和跨度漂移检查，可以手工进行。 2、颗粒物CEMS的零点必须有负值。 * 漂移 二、漂移检查的标准值 1