工业CT原理及系统组成.pdfVIP

工业 CT 原理及系统组成 1 工业 CT 的基本原理 3 2 工业 CT 的系统组成 4 2.1 射线源系统 5 2.2 探测器系统 5 2.3 数据采集系统 6 2.4 机械扫描系统 6 2.5 控制系统 7 1 工业 CT 的基本原理 工业 CT 的成像原理是：利用具有某种能量的射线束对物体进行扫描，根据在 物体外部获得的投影数据，运用特定的重建算法，以二维或三维图像的方式呈现 物体内部的密度分布。 工业 CT 的理论基础是指当一束射线穿过物质并与物质相互作用后，射线强度 将受到射线路径上物质的吸收或散射而衰减，衰减规律由Beer 定律确定。 假设物体是均匀的，如图 1，物体对于X 射线的线性衰减系数为 μ，强度为I0 的X 射线进行 x 距离后，衰减至 I ，根据Beer 定理，有：  I I e x (1) 0 在上式中，I 是出射 X 射线强度，I0 是入射 X 射线强度，x 是厚度，μ 是材料 的线性衰减系数。通常 μ 因材料而异。 I0 μ I x 图 1 均匀物质对 X 射线的衰减 I I 0 μ μ μ ¨¨¨ 1 2 3 x x x ¨¨¨ 1 2 3 图2 非均匀物质对 X 射线的衰减 3 若物体是分段均匀的，如图2 各段的线性衰减系数分别为 μ，μ ，μ ．．．， 1 2 3 x , x , x ... [4] 相应的长度为 ，则下式成立 ： 1 2 3    x  x  x ln( I / I ) (2) 1 1 2 2 3 3 0 根据公式 2 ，则当扫描对象为任意非均匀的物体时，总体衰减系数特性可通过 将物体分割成小单元来计算。当单元尺寸足够小时，每个单元可以看作一个均匀 物体，对每个单元，公式 1 能有效地描述入射和出射X 射线强度。数学上，它可 以表示如下：  p ln( I / I )  dx (3)