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DR性能检测方法 性能检测所需设备与用具 所需设备与用具包括： 多功能X光机质量检测仪； 高对比度分辨率测试卡； 低对比度分辨率模体； 准直度检测板； 20 mm铝板； 1 mm铜板； 1.5 mm铜板； 铅板。 性能检测方法 X射线管电压指示的偏离 确保设备完成X射线管预热。 设置检测几何条件：SID选择100 cm，设置光野范围为10 cm×10 cm，中心线束与探测器垂直。 检测仪探头置于射线中心位置，将铅板放置在探头下方用于保护探测器。 设置临床常用管电流时间积，分别在大小焦点条件下，对60 kV、80 kV、100 kV、120 kV 各档或最接近档进行测量，每档测量3次。 根据式(A.1)计算管电压测量的平均值与管电压预设值的相对偏差。 Ev=Vi 式中： Ev——管电压测量相对偏差， Vi——管电压测量的平均值，单位为千伏（kV V0——管电压预设值，单位为千伏（kV 辐射输出量重复性 确保设备完成X射线管预热。 几何条件与“X射管电压指示的偏离”条件保持一致。 将检测仪探头置于射线中心位置，将铅板放置在探头下方用于保护探测器； 设置管电压为80 kV或最接近档，常用的曝光管电流时间积，无附加滤过。以相同条件曝光测量5次并记录，其中空气比释动能值在检测仪上读取，曝光管电流时间积在设备上读取，两者相除得到每次输出量的测量值。 根据式(A.2)计算测量结果。 CV=1K(K 式中： CV——变异系数，%； Ki——每次输出量的测量值，单位为毫戈瑞每毫安秒（mGy/mAs K——n次输出量测量值的平均值，单位为毫戈瑞每毫安秒（mGy/mAs）； n——输出量的测量总次数。 输出量线性 确保设备完成X射线管预热。 几何条件与“X射管电压指示的偏离”条件保持一致。 将检测仪探头置于射线中心位置，将铅板放置在探头下方用于保护探测器。 设置管电压为80 kV或最接近档，常用的曝光管电流时间积，无附加滤过，进行5次曝光，测量并记录每次曝光空气比释动能，计算平均值。 以上一步曝光管电流为中间值，依次增加两档管电流，同时减少曝光时间，使得管电流时间积与上一步所选取的相同或相似；同样的，依次减少两档管电流，同时增加曝光时间，进行曝光并记录每次曝光空气比释动能（共计进行5档曝光），计算相同曝光条件下的平均空气比释动能。 根据式(A.3)计算各相邻两档间的线性。 L12=K1 式中： L12——相邻两档输出量线性度，% K1——1档空气比释动能平均值，单位为毫戈瑞（mGy I1——1档曝光管电流，单位为毫安（mA t1——1档曝光时间，单位为秒（ K2——与1档相邻档的空气比释动能平均值，单位为毫戈瑞（mGy I2——与1档相邻档的曝光管电流，单位为毫安（mA ? t2——与1档相邻档的曝光时间，单位为秒（s） 有用线束的半值层 确保设备完成X射线管预热。 几何条件与“管电压指示的偏离”条件保持一致。 将检测仪探头置于射线中心位置，将铅板放置在探头下方用于保护探测器。 设置管电压为80 kV或最接近档，常用的曝光管电流时间积，无附加滤过，进行曝光，在检测仪上直接读取半值层。 曝光时间的偏离 确保设备完成X射线管预热。 几何条件与“管电压指示的偏离”条件保持一致。 将检测仪探头置于射线中心位置，将铅板放置在探头下方用于保护探测器。 设置管电压为80 kV或最接近档，常用的曝光管电流档，无附加滤过，分别选择不同的曝光时间进行检测，曝光时间应覆盖＜100 ms档和≥100 ms档区间，重点检测临床常用时间档，曝光时间从检测仪直接读出。每档测量3次取平均值。 根据式（A.4）计算曝光时间指示的偏离。 ET=Ti 式中： ET——曝光时间偏离，% Ti——曝光时间测量平均值，单位为毫秒（ T0——曝光时间设置值，单位为毫秒（ AEC重复性 确保设备完成X射线管预热。 移除滤线栅，调节SID为100 cm（床）/180 cm（胸片架），设置照射野覆盖需要检测的电离室（或全部电离室）。 将20 mm铝板安装在束光器出口。 选定需要测试的电离室（或全部电离室），在自动条件下曝光。若设备没有全自动曝光模式，设置管电压为80 kV或最接近档，管电流时间积为默认值（或选择200 mA管电流值），共进行5次AEC曝光。 根据式（A.5）计算管电流时间积读数的重复性。 CV=1D 式中： CV——变异系数，%； Di——每次曝光管电流时间积读数值，单位为毫安秒（mA QUOTE K K——n次曝光管电流时间积读数平均值，单位为毫安秒（mAs）； n——检测总次数。 AEC响应 确保设备完成X射线管预热。 移除滤线栅，调节SID为100 cm（床）/180 cm（胸片架），设置照射野覆盖需要检测的电离室（或全部电离室）。 将20 mm铝板安装在束