组制定δmm平板对接焊缝的射线照相法探伤工艺.pptxVIP

组制定δmm平板对接焊缝的射线照相法探伤工艺会计学 X射线照相检测技术第1页/共39页一、照相法的灵敏度和透度计（一）灵敏度显示缺陷的程度或能发现最小缺陷的能力。1、绝对灵敏度 在射线底片上能发现被检试件中与射线平行方向的最小缺陷尺寸。与厚度关系：越薄越小，越后越大第2页/共39页2、相对灵敏度 在射线底片上能发现被检工件中与射线平行方向的最小缺陷尺寸占缺陷处试件厚度的百分数。用“k”表示。K=（x/d）×100% X---平行射线方向的最小缺陷尺寸 d---缺陷处工件厚度第3页/共39页（二）透度计材料：与被检工件材质相同或射线吸收性能相似的材料制作结构：设有一些人为厚度差的结构（如孔、槽、金属丝等），其尺寸与被检工件的厚度有一定的数值关系。用途：作为证据保存，记录其条件。说明：指示值不等于被检工件可以发现的自然缺陷的实际尺寸。第4页/共39页二、增感屏1、目的 影像质量主要由被胶片吸收的能量决定的，由于X射线进入胶 片并被吸收的效率由很低，一般只能吸收1％的有效射线来形成影像。2、原理 是由某些特殊物质制造的，这些物质在射线作用下能激发荧光（或产生次级射线），激发出的荧光（或产生的次级射线）对胶片有强感光作用，从而增加曝光量。第5页/共39页3、种类 通常有三种： 荧光增感屏：靠荧光物质在射线下发出荧光来增加曝光量，常用钨酸铅做荧光物质。（清晰度最低） 金属增感屏：是在射线作用下产生二次射线来增加曝光量，如铅/金箔等。(清晰度最高） 金属荧光增感屏：是二者的结合。第6页/共39页三、曝光曲线1、曝光条件（也叫曝光规范） 在一定的探伤器材、几何条件和暗室处理等条件下，欲获得规定黑度值的底片，对某一厚度工件应选用的透照参数。2、曝光曲线 曝光规范的选择，利用曝光曲线最为实用和方便。第7页/共39页四、典型工件的透照方向选择（一）第8页/共39页四、典型工件的透照方向选择（二）第9页/共39页四、典型工件的透照方向选择（三）第10页/共39页四、典型工件的透照方向选择（四）第11页/共39页四、典型工件的透照方向选择（五）五、射线照相方法第12页/共39页 1. 工件的要求： 铸件表面必需清理干净，外观必需合格。 2. 射线照相灵敏度的要求： - 射线照相灵敏度是指在射线照射方向发现被检零件内部最小缺陷的能力。 - 用K表示，K越小表明射线照相灵敏度越高。 - 是用来检查射线照相底片质量的。 - 灵敏射线照相灵敏度取决于射线照相底片的对比度和清晰度。 K=Δd/d*100=Ф/d*100 K – 以百分数表示的射线照相灵敏度，%Δd – 在射线照射方向发现的工件内部最小缺陷厚度尺寸d – 工件被透照处的厚度Ф – 底片上可辨认的象质计最小钢丝直径 ASTM E94对射线照相灵敏度的要求： 小于等于2%第13页/共39页 3. 象质计选用、放置： - 放在靠射线源的一侧工件表面上， - 细丝朝外侧， - 放在有效透照范围的边缘，大约1/4处， - 每张底片上都要有， - 如果不能放在射线源一侧，可以放在胶片一侧的工件表面上，但是要加 “F”标记，并要做对比测试。 - 国标线型象质计按GB5618选用 - 美标线型象质计按ASTM E747选用 第14页/共39页 4. 射线源的选择：（X射线管电压的确定） - 在满足透照厚度的情况下尽快能的选择低的管电压， - 经验公式：管电压KV=工件厚度*4+100（KV）， - 下图是450KV以下X射线管电压，根据厚度和灵敏度选择（相对于铁）第15页/共39页 5. 胶片的选用： - 在适当曝光时间内根据工件厚度、照相灵敏度、增感方式选择胶片类型。胶片种类胶片性质适用增感屏胶片型号粒度感光速度对比度比利时天津1超微粒很慢高铅屏或不加D2?2微粒慢较高铅屏或不加D4V3中等颗粒中等速度较低铅屏或不加D7III4较粗颗粒快速低荧光屏D10II 6. 增感屏的选用： - 铅增感屏，前后各一，金属面与胶片相贴。 - 200KV~1Mev，前后增感屏的最小厚度为0.127mm。 - 200KV以下，屏的厚度可以更小，可不用前屏。第16页/共39页 7. 散射线的屏蔽：来自工件、胶片的背面的壁等的二次射线。 - 在射线源的窗口加铅板和滤光板。 - 在工件非透照部分加厚铅板屏蔽。 - 在工件侧面加铅板屏蔽。 - 在工件背面加铅板放置背散射（2mm厚), 可以在暗盒背后加铅字B，胶片显影后 不应呈现铅字B。 第17页/共39页 - 厚度差比较大的工件： --- 对厚度差别比较大的工件进行射线照相时，射线底片有效评片范围 内各部分的黑度要求均要处在规定的底片黑度范围内。为此可以提 高电压适当降低底片对比度，使底片黑度在规定范围之内。 --- 上述办法不能满足的，可以采用以下办法： 1.