低压成套开关设备温升测试及影响因素探析（建筑设计及理论论文资料）.docVIP

低压成套开关设备温升测试及影响因素探析（建筑设计及理论论文资料） 文档信息 ： 文档作为关于“汽车、机械或制造”中“电气技术”的参考范文，为解决如何写好实用应用文、正确编写文案格式、内容素材摘取等相关工作提供支持。正文5614字，doc格式，可编辑。质优实惠，欢迎下载！ 目录 TOC \o 1-9 \h \z \u 目录 1 正文 2 文1：低压成套开关设备温升测试及影响因素探析 2 一、低压成套开关设备温升测试 2 1.1低压成套开关设备温升测试标准 2 2.低压成套开关设备温升测试方案 2 二、影响温升的因素 3 1.电流不稳定的影响 3 2.连接导线的影响 3 3.空气流动的影响 4 三、低压成套开关设备温升降低措施 4 1.常用散热技术 4 2.散热技术方案及试验 5 结束语 6 文2：农业科技成果转化影响因素探析 6 1农业科技成果转化的意义 6 2农业科技成果转化中的问题 7 3农业科技成果转化的策略 8 参考文摘引言： 9 原创性声明（模板） 10 正文 低压成套开关设备温升测试及影响因素探析（建筑设计及理论论文资料） 文1：低压成套开关设备温升测试及影响因素探析 一、低压成套开关设备温升测试 1.1低压成套开关设备温升测试标准 随着我国电力行业的不断发展，低压成套开关设备安全运行与管理工作执行标准有了新的变化，2013标准由原有的GB7251.1-2005升级为GB7251.1-2013，针对设备的众多运行工况管理提出了新的规定。其中，针对温升测试主要提出了以下规定，相应的测试方式包括以下几种：(1)温升试验测试；(2)额定数据推导检验；(3)工况参数计算。当前应用较多且更为贴合低压成套开关设备运行状况的模式为温升试验测试模式，GB7251.1-2013标准中提出了以下方法以供选择：（1）整个成套设备验证；（2）分别验证各功能单元和整个成套设备；（3）分别验证各功能单元、主母线、配电母线和整个成套设备。结合新标准中的试验要求来看，低压成套开关设备温升测试应全面覆盖设备的主要线路与配电环节，同时包括使用控制部件。从工况载荷标准来看，试验按照设备最大载流量实施，保证了多种工况下的测试有效性。 2.低压成套开关设备温升测试方案 低压成套开关设备温升试验方案的制定，应参考设备安装特点，同时根据环境因素与外壳条件等选择更为严苛的条件进行实验。在展开实际试验工作前，应首先进行安全防护与检查，保证设备能够在相应的安全防护等级下正常运作。低压成套开关设备外接导线应与设备内部功能单元和配线额定电流相匹配。温升试验的方案制定与温升试验回路特点相关。在单回路温升试验条件下，可将设备出线末端短接，导入额定电流进行温升测试。 二、影响温升的因素 1.电流不稳定的影响 在GB7251.1—2013中规定，在试验期间，实际进线试验电流的平均值应在预期值的0%～+3%之间，每相应在预期值的±5%范围内，但是在实际试验中电源电压难免有波动，低压成套开关设备中导体和连接导线在通电发热后其电阻值也难免要增大，这些都会使试验电流值发生变化。试验电流的变动对试品温升的影响是很敏感的，这是因为试品的发热与试验电流值的平方成正比。当每相实际试验电流上偏离标准规定值5%时，低压成套开关设备该相的温升就将增大10%，也就是说如果实际温升只有50K，因为电流有上偏差5%，测量的温升就有50+50×10%=50+5=55K，这样造成温升测量结果+5K的误差。而且按照标准的要求，判断温升是否达到稳定的规定是测量的所有点温升值之差不大于1K/h，如果实际温升为50K，在1h期间，电流偏差达到2%，电流偏差引起的温升偏差就达到1K，就不能以此确认温升达到稳定，因此严重影响温升的测量。 2.连接导线的影响 温升试验中连接导线对低压成套开关设备温升的影响是很明显的，这是因为连接导线可把样品所产生的热量通过导线传导到外面，也可以把外面的热量导入样品中。因此，标准中严格规定了温升试验中使用导线的截面积和长度规格，进行温升试验时应按标准的规定根据试验电流大小选用导线。有时即使使用标准要求的导线，因为导线的实际状况也会影响温升，例如使用铜排连接时，铜排上涂有的黑色无光黑漆容易因为年久产生脱落，影响其散热；使用绝缘导线时，因为实验室利用导线的频率高，使用久了之后导线的连接头会出现导线中铜丝断裂的现象，造成温升值升高，进而影响样品的实际测量温升。 3.空气流动的影响 空气的流动对样品和连接导线的散热都有一定的影响，从而影响试品的温升。在低压成套开关设备进行温升试验时，存在两种形式的空气的流动，一种是由于试品本身发热后引起周围空气的流动，称为空气的自然对流；另一种是有外界