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ICT测试原理 ⑴ 电阻测试 R＝U/I ⑵ 电容量测试 ⑶ 电感量测试 ⑷ 二极管测试。正向测试二极管时，加入一正向电流，硅二极管的正向压降约为0.6V~0.7V；若加一反向电流，二极管的压降会很大。 ⑸ 三极管测试，分三步测试三极管。 ⑹ 跳线测试。 ⑺ 测试集成电路 * 第61页，共101页。 ICT编程（选学内容，建议学生自学） 电阻元件编程：在“T”栏输入“R”；在“Part name”处输入元件图号，如R1；在“Ideal”栏输入标称值，如R1是1kΩ；在“Pin1”、“Pin2”输入其引脚相对应的针号；“%”、“T+”、“T-”栏输入该电阻的误差范围，“W”栏输入测试方法“I”（普通测试方法），如果电阻在电路中与一个电解电容器并联（如图5.22(a)所示），则因测试方法“I”的测试时间很短，电容器充电需要一定时间，将会出现测试误差，只要将“W”栏中的“I”改为“V”，再加一定的延时时间“dms”，如20ms，则测试结果就与实际值相同了。 * 第62页，共101页。 隔离点 测量电阻时，有时因为电路关系，需增加一隔离点，如图5.22(b)所示：电阻R1和R2、R3并联，当在顶针1、2位测试R1的阻值时，测试结果不是1kΩ，而是500Ω。这是由于从1号顶针位流入的电流I有一部分流入了R2、R3支路了。要解决这一问题，可以选择在3号位增加一顶针“3”，使“3”号顶