“四性”设计与试验课件.ppt

3. 虚警率rFA：是指在规定的期间 内，测试系统发生的虚警数与故障指 示总次数之比，用百分数表示。 此外，还有故障检测时间、故障 隔离时间、不能复现率、重测合格率 的指标。 指标的一般要求： 一线BIT % 二线BIT+ATE % rFD 90～98（95） 95～98（98） rFI 1个LRU（SRU） 90～99（95） 70～90（80） 2个SRU / 80～95（90） 3个SRU / 95～100（100） rFA 1～5（2） 1～5（3） 参数 维修级别 (三)测试性设计 设计准则 * 合理划分产品单元； * 合理设计测试点； * 合理选择测试方式； * 测试设备与被测设备兼容性。 测试性分配 测试性分配的任务是将故障检测率和故障 隔离率指标分配到系统的各个LRU和SRU。分配 方法主要有： * 故障率分配法； * 加权分配法。 故障率分配法 该方法是对故障率高的单元，分配较高 的故障检测率和隔离率指标。具体步骤： 1.画出系统功能层次图； 2.取得个单元故障率数据λi； 3.计算个单元分配值； n λi∑λi i=1 Pia=Psr n ∑λi2 i=1 Psr—系统测试性指标 4.权衡、调整计算所得的Pia值； 5.按下式验算分配结果： n ∑λiPia i=1 Ps = n ∑λi i=1 若Ps＞Psr，则分配工作完成； 否则，重复上述4、5步骤。 加权分配法 加权分配法考虑多个因素，并给出相应的加权系 数，用来计算分配指标： 故障率系数k1：单元故障率与系统故障率之比； 故障影响系数k2：影响大的取值大； 修复时间系数k3：修复时间短的取值大； 自动测试难易系数k4：容易的取值大； 修复成本系数k5：成本低的取值大。 测试性预计 测试性预计是按照系统组成情况， 从SRU到LRU、再到系统，估计出系统的 测试性参数。 预计的指标主要是故障检测率、隔离率 和虚警率。 测试性预计包括机内测试（BIT）和 系统测试性预计两部分。 BIT预计按以下步骤进行： * 准备测试性框图； * BIT方案分析（PBIT/IBIT/MBIT）； * BIT算法分析； * 故障模式分析(FM、α、λFM)； * 故障检测分析（ λD ）； * 故障隔离分析；（ λI） * 虚警分析（δ）； * 填写BIT预计工作单。 项目 组成部件 故障率 检测λD 隔离λI 虚警δ 序号 代号 名称 λP FM α λFM PBIT IBIT MBIT UD 1SRU 2SRU 3SRU 2SRU以内 1 SRU1 U1 120 FM11 0.3 36 36 36 36 36 36 FM12 0.3 36 36 36 36 36 36 FM13 0.4 48 48 48 48 48 48 2 SRU2 U2 40 FM21 0.6 24 24 24 24 24 24 FM22 0.4 16 0 16 16 16 16 3 SRU3 U3 28 FM31 0.5 14 14 14 14 14 14 FM32 0.5 14 0 0 0 14 故障总计 188 158 174 174 14 124 50 174 预计值/（%） 84.0 92.6 92.6 7.4 71.3 29.7 100 BIT预计工作作单 产品名称：LRU1 系统测试性预计 系统和设备的测试性预计是根据系统设计来 估计可达到的故障检测与隔离能力，所用的检测 方法包括 BIT、操作者判断和维修人员的计划维 修检测等。预计的工作内容和工作单格式与 BIT 预计类似，只是“检测λD”栏的填写不是按 BIT分 类，而是按检测方式—BIT检测（B）、操作员判 断（P）、维修检测（M）和三种方法均无法检测 （UD）来分类填写。 (四)测试性试验 测试性试验分为工程试验和鉴定试验 两类：工程试验的目的是检验测试性设计 水平和结果；鉴定试验的目的是考核产品 的测试性是否满足“研制任务书”规定的 指标要求。其方法与维修性试验相同，也 采用统计试验的方法。试验样本利用自然 故障和人为模拟故障来获取，样本数量根 据的大数中心极限定理，不小于30个。 四、保障性设计与试验 (一)保障性的定义 保障性是装备的设计特性和计划的保障