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- 2023-05-05 发布于四川
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本发明公开了一种用于芯片的检测系统及其检测方法,包括工作台、以及设置于工作台上表面一侧的控制柜,所述工作台的上表面设置有驱动箱,所述驱动箱的上表面设置有可转动的转动盘,且所述驱动箱内设置有用于驱动转动盘进行90°间歇式转动的驱动机构,所述转动盘的上表面设置有四个呈圆周阵列分布的用于对芯片进行固定的固定机构,本发明自动化程度高,操作简单,对工人技术要求低,通过四个固定机构的设置,实现了不间断的对芯片进行检测,大大提高了检测效率,从而大大提高了生产效率,同时大大节省工人的劳动强度。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114295957 A
(43)申请公布日 2022.04.08
(21)申请号 202111532592.8
(22)申请日 2021.12.15
(71)申请人 江苏丹翔可控硅科技有限公司
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