芯片的信号测试方法、系统、设备、存储介质及程序产品.pdfVIP

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2023-05-07 发布于北京
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芯片的信号测试方法、系统、设备、存储介质及程序产品.pdf

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本公开提供一种芯片的信号测试方法、系统、设备、存储介质及程序产品，涉及半导体技术领域，用于解决芯片测试效率较低的技术问题，芯片具有多个输入信号，该信号测试方法包括：获取设备芯片的所有输入信号；获得每个设备输入信号的时间参数；将所有设备输入信号的时间参数生成结果表格。通过对芯片的所有输入信号进行获取，并获得各输入信号的时间参数，得到所有输入信号的时间参数的结果表格，实现芯片的输入信号的批量测试，提高电路设计者的设计效率，便于设计测试电路，提高测试效率。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114371387 A (43)申请公布日 2022.04.19 (21)申请号 202210021364.2 (22)申请日 2022.01.10 (71)申请人长鑫存储技术有限公司