CZT偏压测试系统及其测试方法、控制装置和存储介质.pdfVIP

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  • 2023-05-09 发布于四川
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CZT偏压测试系统及其测试方法、控制装置和存储介质.pdf

本发明涉及探测器技术领域,本发明提供一种CZT偏压测试系统及其测试方法、控制装置,存储介质,CZT偏压测试系统的测试方法包括以下步骤:控制高压生成电路向测试CZT晶体上施加多个第一电压;获取信号采集电路识别的每一第一电压对应的第一信号计数率;根据多个第一信号计数率之间的第一变化率,获取测试CZT晶体的最佳偏压。在本发明提供的测试方法中,通过高压生成电路向测试CZT晶体上施加高压电压,然后通过信号采集电路,对测试CZT晶体产生的电子进行收集,得到在此高压下的CZT晶体的信号计数率,获取不同高压状态

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116068608 A (43)申请公布日 2023.05.05 (21)申请号 202310217052.3 (22)申请日 2023.03.08 (71)申请人 陕西迪泰克新材料有限公司 地址

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