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基于终点对齐辐照的空间电子系统总剂量效应试验方法.pdfVIP

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  • 2023-05-10 发布于四川
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基于终点对齐辐照的空间电子系统总剂量效应试验方法.pdf

    本发明涉及空间总剂量效应，具体涉及基于终点对齐辐照的空间电子系统总剂量效应试验方法，用于解决现有电子系统总剂量效应试验方法不能完全保证电子系统抗总剂量性能评价的可靠性及准确性的不足之处。该基于终点对齐辐照的空间电子系统总剂量效应试验方法，结合电子系统试验的特点设计了方法一至方法四，使本发明相较于基于始点对齐的总剂量效应试验方法符合实际情况，且易于操作，保证了空间电子系统抗总剂量性能评价的准确性，以及航天器在轨安全可靠运行。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114518498 A (43)申请公布日 2022.05.20 (21)申请号 202111629083.7 (22)申请日 2021.12.28 (71)申请人 西北核技术研究所 地址 71002

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