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- 2023-05-10 发布于四川
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本发明涉及DDR信号测试,具体是涉及一种DDR信号测试治具及测试方法。所述DDR信号测试治具包括PCB板、第一底座及第二底座,所述第一底座及第二底座的管脚与待测试DDR芯片对应,第一底座焊接于主板的DDR芯片焊接位置处,所述PCB板的底层焊接于第一底座上并电性连接,所述PCB板的表层上焊接有第二底座并电性连接,待测试DDR芯片装于第二底座上,所述PCB板的表层设置有若干测试孔,所述测试孔与所述DDR芯片引脚一一对应并电性连接。本发明的DDR信号测试治具及测试方法,通过设置第一底座、具有第二底座的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114520019 A
(43)申请公布日 2022.05.20
(21)申请号 202011305888.1
(22)申请日 2020.11.20
(71)申请人 神讯电脑(昆山)有限公司
地址 2
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