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用于扫描测量污染平面的方法及系统.pdfVIP

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  • 2023-05-16 发布于北京
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用于扫描测量污染平面的方法及系统.pdf

    本发明实施例提供一种用于扫描测量污染平面的方法及系统，属于激光雷达扫描的控制技术领域。所述方法包括：获取任务要求及当前系统的系统信息；采用策略模型方法根据当前的系统信息、任务要求以及差异信息记录数据库计算理论的扫描速度；获取当前系统的时序脉冲信号、激光雷达测量信号以及角度信息；根据计算出的扫描速度控制雷达设备完成扫描操作；采用角度累加方法获取每个角度对应的信号；采用计算机反演模型算法根据所述角度以及对应的信号生成实际扫描谱数据。该方法及系统能够提高雷达的扫描效率。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114779279 A (43)申请公布日 2022.07.22 (21)申请号 202210489293.9 (22)申请日 2022.05.07 (71)申请人 安徽科创中光科技股份有限公司 地址

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