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本发明涉及一种高阻膜测试系统及其测试方法，包括上卸料装置、硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置、附着力测量装置和控制装置。本发明的有益之处在于：能够通过硬度测量装置、厚度测量装置、亮度测量装置、电阻测量装置和附着力测量装置分别对高阻膜的硬度、厚度、透光效果、电阻值及附着力进行测试，降低人力投入，提高测试效率；除此之外，通过上卸料装置对高阻膜进行统一上卸料，保证检测过程的连续性，降低漏检几率，提高检测的准确性，并且降低整体空间占用。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112212921 A
(43)申请公布日 2021.01.12
(21)申请号 202011109814.0
(22)申请日 2020.10.16
(71)申请人 赫得纳米科技（昆山）有限公司
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