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本发明公开了一种芯片自动检测装置,包括设备底座,所述设备底座内上端左侧设有开口向上的工作腔,所述工作腔内设有能上下滑动的支撑板,所述支撑板上端面接触连接有芯片,所述支撑板下端面中心固定连接有能于所述工作腔内上下滑动的升降套杆,所述工作腔内上端左右两壁对称且连通有封闭杆腔;本发明可快速完成芯片电气特性的检测,本发明通过根据芯片数量及其排布方式,来放置对应探针及标记笔来实现一一对应的效果,另外通过将晶圆片封装的同时,对其进行再次的真空清洁,本发明通过上述方法缩短了芯片检测的时长,减少了芯片标记的重复
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112305410 A
(43)申请公布日 2021.02.02
(21)申请号 202011211186.7
(22)申请日 2020.11.03
(71)申请人 谭秀美
地址 224
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