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SOC芯片性能验证中的数据处理方法及装置.pdfVIP

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  • 2023-05-28 发布于四川
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SOC芯片性能验证中的数据处理方法及装置.pdf

    本申请公开了一种SOC芯片性能验证中的数据处理方法及装置，其中，SOC芯片中包括多个数据通路，该方法包括：在对数据通路进行性能验证时，针对每个数据通路，控制该数据通路多次执行指定操作，并获取数据通路每次完成指定操作时所对应的延迟值，以及根据数据通路每次完成指定操作时所对应的延迟值，生成并展示可视化图表。由此，通过对数据通路生成的延迟值的获取并以可视化图表的方式进行展示，使得对延迟值的分析更加深入、细致。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116166480 A (43)申请公布日 2023.05.26 (21)申请号 202210662996.7 (22)申请日 2022.06.13 (71)申请人 西安爱芯元智科技有限公司 地址

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