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X-MR图 UCLMR = D4Rbar LCLMR = D3Rbar UCLX = Xbar+E2Rbar LCLX = Xbar-E2Rbar n 2 3 4 5 E2 2.66 1.77 1.46 1.29 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 D3 * * * * DNV - June 1999 * 第九十四页，共一百四十三页。 应用计数型数据控制图原因 1、计数型数据的情况存在于任何技术或行政管理过程中，所以可以在很多场合下应用计数型数据分析技术，最大的困难是对什么是不合格下一个精确的可操作的定义； 2、在很多情况下已有计数型数据-检验、要求修理的书面记录、拒收材料的筛选等。在这些情况下，不涉及到额外的收集数据的费用，只是将数据转化成控制图的工作； 3、在收集新数据的地方，获得计数型数据通常是很快且不需很多费用，并且由于使用简单的量具（例如通过量规），所以通常不需要专业化的收集技术； DNV - June 1999 * 第九十五页，共一百四十三页。 应用计数型数据控制图原因 4、许多用于管理总结报告的数据是计数型的并且可以从控制图分析中获得益处。例如：部门一次成功性能，废品率、质量审核和材料拒收，由于能够区分特殊原因和普通原因变差，控制图分析在解释这些管理报告时很有价值； 5、当在一个组织机构内引进控制图时，优先解决某些问题及在最需要的地方应用控制图是很重要的，问题的信号会来自成本控制系统，使用者的抱怨、内部的难关（瓶颈）等的地方，对于关键的总体质量量度应用计数型控制图通常能对需要更详细检查特定过程的地方指出一条路子-包括应用计量型数据控制图的可能。 DNV - June 1999 * 第九十六页，共一百四十三页。 计数型数据控制图 p图 np图 c图 u图 DNV - June 1999 * 第九十七页，共一百四十三页。 P 图 不合格品率（不良率）控制图 分析或控制制程不合格品率（不良率） 样本大小n可以不同 DNV - June 1999 * 第九十八页，共一百四十三页。 建立P控制图的步骤 A、收集数据 A.1.选择子组的容量,频率及数量 A.2.计算每个子组内的不合格率(P) A.3.选择控制图的坐标刻度(不合格品率作为纵坐标,子组识别如小时、天等）作为横坐标。纵坐标的刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍的值。 A.4.将不合格品率描绘在控制图上 DNV - June 1999 * 第九十九页，共一百四十三页。 建立P控制图的步骤 B.计算控制限 B.1.计算过程平均不合格率 B.2.计算上、下控制限（UCL，LCL） B.3.画线并标注 过程均值(Pbar)-水平实线 控制限(UCL,LCL)-水平虚线 DNV - June 1999 * 第一百页，共一百四十三页。 P 图 Pbar=(n1P1+ n2P2+ …+nkPk)/(n1+n2+…+nk) UCLp=Pbar+3[Pbar(1- Pbar)]1/2/n 1/2 LCLp=Pbar-3[Pbar(1- Pbar)]1/2/n 1/2 DNV - June 1999 * 第一百零一页，共一百四十三页。 问题讨论 1.什么是过程控制系统?变差是如何影响过程输出的? 2.统计技术是如何区分问题的实质是局部的还是 涉及整个系统的? 3.什么是统计受控过程?什么是有能力的过程? 4.SPC的应用步骤如何?(假定为未导入SPC的企业) DNV - June 1999 * 第六十二页，共一百四十三页。 SPC应用步骤（企业新导入步骤） 1、确定制造流程；（品质管制/QC工程图） 2、确定管制项目/特性；（各部门讨论决定） 3、实施标准化；（减少不必要的变差） 4、制程能力调查； 5、管制图运用； 6、问题分析解决； 7、制程的继续管制； DNV - June 1999 * 第六十三页，共一百四十三页。 控 制 图 DNV - June 1999 * 第六十四页，共一百四十三页。 控制圖 控制图基本概念与益处 控制图使用策划 控制图的种类 如何選用控制圖 實例练习 DNV - June 1999 * 第六十五页，共一百四十三页。 基 本 概 念 1920年由W.A. Shewhart提出 一般称为Shewhart控制图或3σ控制图 广泛在工业界应用 为判断制程变差的变通原因或特殊原因的主要统计分析工具 DNV - June 1999 * 第六十六页，共一百四十三页。 基 本 概 念 控制图中包